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德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀

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更新時間：2022-12-14 16:18:54瀏覽次數(shù)：520次

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51儀器儀表網(wǎng)()-專業(yè)進口儀器供應(yīng)商！我們提供豐富的儀器儀表種類、有競爭力的產(chǎn)品價格及良好的售后服務(wù)

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51儀器儀表網(wǎng)()-專業(yè)進口儀器供應(yīng)商！我們提供豐富的儀器儀表種類、有競爭力的產(chǎn)品價格及良好的售后服務(wù)。

德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析。

德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產(chǎn)品簡介：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

XDL230 有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器，比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了FISCHER基本參數(shù)法，因此無論是對鍍層系統(tǒng)還是對固體和液體樣品，儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。

德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀產(chǎn)品應(yīng)用：

測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件

測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻

測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層

測量印刷線路板

分析電鍍?nèi)芤?/span>

我們會努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯，如技術(shù)參數(shù)中英文有差異，以英文參數(shù)為準。

德國FISCHER X-RAY XDL 230 X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀技術(shù)參數(shù)：

通用規(guī)格
設(shè)計用途	能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀（EDXPF），用于測定超薄鍍層和溶液分析。
元素范圍	從元素氯（17）到鈾（92）
元素范圍	配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，多時可同時測定24種元素
設(shè)計理念	臺式儀器，測量門向上開啟
測量方向	由上往下
X射線源
X射線管	帶鈹窗口的鎢管
高壓	三檔：30KV，40KV，50KV
孔徑（準直器）	φ0.3mm　可選：φ0.1mm；φ0.2mm；長方形0.3mm x 0.05mm
測量點尺寸	取決于測量距離及使用的準直器大小
	實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致
	較小的測量點大小約φ0.2mm
X射線探測
X射線接收器	比例接收器
測量距離	0~80mm，使用專有保護的DCM測量距離補償法
樣品定位
視頻系統(tǒng)	高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置
	手動聚焦，對被測位置進行監(jiān)控
	十字線（帶有經(jīng)過校準的刻度和測量點尺寸）
	可調(diào)節(jié)亮度的LED照明，激光光點用于準確定位樣品
放大倍數(shù)	40x~160x
電器參數(shù)
電源要求	200V，50Hz
功率	很大120W（不包括計算機）
保護等級	IP40
尺寸規(guī)格
外部尺寸	寬x深x高（mm）：570x760x650
內(nèi)部測量室尺寸	寬x深x高（mm）：460x495x（參考“樣品較大高度"部分的說明）
重量	107KG
環(huán)境要求
使用時溫度	10℃~40℃
存儲或運輸時溫度	0℃~50℃
空氣相對濕度	≤95%　無結(jié)露
工作臺
設(shè)計	手動X/Y平臺
X/Y平臺較大移動范圍	92x150mm
可用樣品放置區(qū)域	420x450mm
Z軸	馬達驅(qū)動
Z軸移動范圍	140mm
樣品很大重量	20KG
樣品很大高度	140mm
激光（1級）定位點	有
計算單元
計算機	帶擴展卡的Windows®計算機系統(tǒng)
軟件	標準：WinFTM®V.6 LIGHT
軟件	可選：WinFTM®V.6 BASIC，PDM，SUPER
執(zhí)行標準
CE合格標準	EN 61010
型式許可	作為受保護的儀器
型式許可	型式許可符合德國“Deutsche Rontgenverordnung-RoV"法規(guī)的規(guī)定