- 快速、準確
- 易于升級
- 光斑可視化
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更新時間:2024-02-16 15:20:39瀏覽次數(shù):204次
聯(lián)系我時,請告知來自 環(huán)保在線日本HORIBA Smart SE 智能型多功能橢偏儀 是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快,準確。它可以表征幾埃到20µm薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n, k)以及薄膜結(jié)構(gòu)特性(如粗糙度、光學(xué)梯度及各向異性等)。
Smart SE, 智能型多功能橢偏儀 Smart SE 是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快,準確。它可以表征幾埃到20µm薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n, k)以及薄膜結(jié)構(gòu)特性(如粗糙度、光學(xué)梯度及各向異性等)。 Smart SE利用 DeltaPsi2 軟件平臺在幾分鐘內(nèi)對450-1000nm的光譜數(shù)據(jù)進行采集、建模分析。自動化雙軟件操作平臺,從簡化的工作流程到研發(fā),滿足不同層次和需求的客戶。 Smart SE是一款性價比的薄膜研發(fā)工具,以經(jīng)濟實惠的價格提供了研究級的性能。標配一套完整樣品可視化系統(tǒng),準確定位分析位置及區(qū)域,7個不同尺寸的微光斑可用于微區(qū)特征分析。幾秒鐘即可獲得完整的16位穆勒矩陣,用于復(fù)雜樣本的研究。 Smart SE配置靈活、具備多角度測量能力,可方便實現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進行簡單、快速、準確表征和分析的工具, 可用于在線原為測試。Smart Se可以滿足各類應(yīng)用領(lǐng)域,包括微電子,光伏,顯示,光學(xué)涂料,表面處理和有機化合物等。
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