磁粉探傷用試片使用說明
磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗磁粉檢測設備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。
標準試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中：
| 名稱 | A型試片 | D型 | C型 | M1 |
| 試片厚度微米 | 100±10 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | 50±5 |
| 試片長度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 10±0.5 | 20±1 |
| 試片寬度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 50±0.5 | 20±1 |
| 分割線間隔毫米 | | | | 5±0.5 | |
| 圓形人工槽直徑毫米 | 高靈敏度 | 10±0.5 | 10±0.5 | 5±0.3 | | 12 |
| 中靈敏度 | | | | | 9 |
| 低靈敏度 | | | | | 6 |
| 十字人工槽長度毫米 | 高靈敏度 | 6±0.3 | 6±0.3 | 3±0.2 | | |
| 中靈敏度 | | | | | |
| 低靈敏度 | | | | | |
| 人工槽深度 微米 | 高靈敏度 | 15±2.0 | 7±1.0 | 7±1.0 | 8±1.0 | 7 |
| 中靈敏度 | 30±4.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15 |
| 低靈敏度 | 60±8.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30 |
| 人工槽寬度 微米 | 60—180 |
標準試片使用方法：
標準試片適用于連續(xù)磁化法，使用時應將試片無人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。
磁粉檢測時一般應選用A130/100型標準試片。當檢測坡口狹小部位，由于尺寸關系可選擇適合大小的試片檢測；當用戶需要或技術文件有規(guī)定時，可選用規(guī)定的試片檢測。
標準試片在檢測前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測后請防銹。
標準試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經過退火處理；A2試片未經過退火處理。
C型標準試片可剪成5個小試片分別使用。
磁粉探傷用試片使用說明
磁粉探傷用試片A1、A2、D、C、M1型主要用于檢驗磁粉檢測設備、磁粉和磁懸液綜合性能。了解被檢工件表面有效磁場強度和方向、有效檢測區(qū)以及磁化方法是否正確。
| 名稱 | A型試片 | D型 | C型 | M1 |
| 試片厚度微米 | 100±10 | 50±5 | 50±5 | 50±5 | 50±5 |
| 試片長度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 10±0.5 | 20±1 |
| 試片寬度毫米 | 20±1 | 20±1 | 10±0.5 | 50±0.5 | 20±1 |
| 分割線間隔毫米 | | | | 5±0.5 | |
| 圓形人工槽直徑毫米 | 高靈敏度 | 10±0.5 | 10±0.5 | 5±0.3 | | 12 |
| 中靈敏度 | | | | | 9 |
| 低靈敏度 | | | | | 6 |
| 十字人工槽長度毫米 | 高靈敏度 | 6±0.3 | 6±0.3 | 3±0.2 | | |
| 中靈敏度 | | | | | |
| 低靈敏度 | | | | | |
| 人工槽深度 微米 | 高靈敏度 | 15±2.0 | 7±1.0 | 7±1.0 | 8±1.0 | 7 |
| 中靈敏度 | 30±4.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15±2.0 | 15 |
| 低靈敏度 | 60±8.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30±4.0 | 30 |
| 人工槽寬度 微米 | 60—180 |
標準試片A1、A2、D、C、M1型規(guī)格中：
標準試片使用方法：
標準試片適用于連續(xù)磁化法，使用時應將試片無人工缺陷的面朝外，為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。
磁粉檢測時一般應選用A130/100型標準試片。當檢測坡口狹小部位，由于尺寸關系可選擇適合大小的試片檢測；當用戶需要或技術文件有規(guī)定時，可選用規(guī)定的試片檢測。
標準試片在檢測前用柔軟紙或紗片將試片表面油擦去；檢測后請防銹。
標準試片表面有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時不得繼續(xù)使用。
A1、A2試片外型規(guī)格一樣。A1試片經過退火處理；A2試片未經過退火處理。
C型標準試片可剪成5個小試片分別使用。
