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納米粒度zeta電位儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

性能指標(biāo)采用了的三角度測(cè)量模式

詳細(xì)介紹

性能指標(biāo)

采用了的三角度測(cè)量模式，可兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào)有效地提高測(cè)量濃度上限，可達(dá)40%w/v 硬件PALS技術(shù)，可廣泛測(cè)定具有低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度的樣品開(kāi)放式樣品池避免了交叉污染，可清潔重復(fù)使用

主要應(yīng)用

納米涂料、納米金屬粉、納米陶瓷、納米氧化物、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、油漆、顏料、油墨以及其它所有納米材料研究、生產(chǎn)與使用等行業(yè)的粒度分布及Zeta電位測(cè)試。

樣品要求

1.樣品應(yīng)該為澄清溶液，溶液中無(wú)肉眼可見(jiàn)的絮狀物或漂浮物；樣品在640nm處不吸光，不會(huì)發(fā)射熒光。
2.液體樣品濃度不低于0.1mg/mL。
3.粒度樣品體積大于0.2mL，電位樣品體積大于2mL。
4.若溶液使用有機(jī)溶劑，在粒度分布測(cè)試項(xiàng)目中，請(qǐng)?zhí)崆安殚喸撊軇┑恼凵渎屎驼扯认禂?shù)；在Zeta電位測(cè)試項(xiàng)目中，請(qǐng)?zhí)崆安殚喸撊軇┑恼凵渎?，粘度系?shù)和介電常數(shù)。
5.做Zeta電位測(cè)試時(shí)，若液體中含鹽量較高，請(qǐng)?zhí)崆案嬷?
6.儀器自帶升溫設(shè)備，溫度變化范圍為-5°~110°

儀器說(shuō)明