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南京寶峰機電科技有限公司
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更新時間：2023-06-03 15:38:49瀏覽次數(shù)：240次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線德國KD涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042 利用磁感應(yīng)法和渦流法測量鍍層厚度,有多種規(guī)格探頭可供選擇
LEPTOSKOP 2042涂層測厚儀
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042具有精準的測量技術(shù)和簡單的操作方法，是的涂層測厚儀。通過解鎖代碼，可以使儀器在現(xiàn)場迅速的升級。
可定制帶系統(tǒng)的涂層測厚
涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042利用磁感應(yīng)法（DIN EN ISO 2178）測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法（DIN EN ISO 2360）測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合，同時提供10種可供任意選擇的語言，以滿足客戶的各種需求,是一種經(jīng)濟的產(chǎn)品，電池壽命長，可以連續(xù)工作100小時以上。儀器記錄工作時間和測量數(shù)量，因此一些重要的參數(shù)可以被保存。
彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi)，可以保護儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。
特點概述:
大圖解屏幕48 mm x 24 mm,有背景燈
校準選項
出廠時已校準，立即可用
在未知涂層上校準
零校準
在無涂層的基體上一點和多點校準
在有涂層的基體上校準
校準數(shù)據(jù)可以別單獨存儲在獨立的校準檔案中，也可以隨時調(diào)出
可選擇的顯示模式，以佳形式去完成測量任務(wù)
輸入和極限監(jiān)視*
在Windows下有簡單的存儲讀數(shù)檔案管理
可用的電腦軟件STATWIN 2002和EasyExport
統(tǒng)計：
可統(tǒng)計評估999個讀數(shù)
小值、大值、測量個數(shù)、標準偏差和極限監(jiān)視
局部厚度和平局膜層厚度（DIN EN ISO 2808）
在線統(tǒng)計，所有統(tǒng)計值概括
LEPTOSKOP 2042有3種配置級別：
基本型– 證明質(zhì)量的基本特征
高級型- 附加統(tǒng)計評估
專業(yè)型- 統(tǒng)計評估和數(shù)據(jù)存儲
如果針對新的測量要求，而需要儀器增加新的功能，可以在任何時候把儀器升級為高級型和/或?qū)I(yè)型。升級只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼，“統(tǒng)計"和/或“統(tǒng)計& 數(shù)據(jù)存儲"，便可完成；而不需要把儀器反廠或重新購買新機器。
多樣的探頭：
多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下，更容易地測量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm也是可以的。根據(jù)需求，我們也可以訂做特殊探頭。
北京埃森焊接與切割展現(xiàn)場展示德國KD無損檢測設(shè)備
德國卡爾德意志公司于1949年在烏普塔爾（德國）成立。自成立以來，公司一直致力于研發(fā)和制造無損檢測（NDT）產(chǎn)品。 產(chǎn)品包括 數(shù)字式和模擬式超聲波探傷儀、測厚儀、涂層測厚儀、裂紋測深儀、超聲波檢測系統(tǒng)、磁粉檢測儀器、磁懸液和其它檢測附件、滲透檢測套裝和滲透檢測固定裝置。
KD公司的產(chǎn)品以不斷創(chuàng)新和安全可靠為特色，產(chǎn)品商標ECHOGRAPH, ECHOMETER, DEUTROFLUX,LEPTOSKOP, FLUXA, KD-Check 和RMG享譽 。
KD公司一直憑借豐富的實踐經(jīng)驗，理論知識和六十多年的專業(yè)訣竅，造就了符合質(zhì)量管理保證體系的*的儀器和附件。未來，KD會研發(fā)出更高品質(zhì)，更可靠和更經(jīng)濟的產(chǎn)品，滿足客戶的需求。
泰亞賽福員工赴德國卡爾德意志總部進行為期兩周技術(shù)培訓(xùn)學習
示值顯示不穩(wěn)定？
導(dǎo)致涂鍍測厚儀示值顯示不穩(wěn)定的原因主要是來自工件本身的材料和結(jié)構(gòu)的特殊性，比如工件本身是否為導(dǎo)磁性材料，如果是導(dǎo)磁性材料我們就要選擇磁性涂鍍層測厚儀，如果工件為導(dǎo)電體，我們就得選擇渦流涂鍍層測厚儀，還有工件的表面粗糙度和附著物也是引起儀器示值顯示不溫度的原因，工件表面粗糙度過大、表面附著物太多。排除故障的要點就是要將粗糙度比較大的工件打磨平整，出去附著物即可，再有就是選擇適合的涂鍍層測厚儀。
測量結(jié)果誤差太多？
引起涂鍍層測厚儀測量誤差大的原因我們在以前的文章中已經(jīng)介紹很清楚了，這里我們在簡單介紹一下引起測量誤差較大的原因主要有：基體金屬磁化、基體金屬厚度過小、邊緣效應(yīng)、工件曲率過小、表面粗糙度過大、磁場干擾探頭的放置方法等。
不顯示數(shù)字？
造成涂鍍層測厚儀不顯示數(shù)字的簡單原因就是檢查電池是否電量充足，確定電池電量充足后如發(fā)現(xiàn)測量還是不顯示數(shù)值。
LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀技術(shù)參數(shù)：
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