束蘊(yùn)儀器（上海）有限公司
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述：標(biāo)配2A電流，30V極化電位，高頻達(dá)32MHz
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-28 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述：八個(gè)獨(dú)立通道，每通道標(biāo)配4A電流，阻抗提供單波，多波和諧波技術(shù)，輔助分壓可測(cè)試單體陰/陽(yáng)極，電池組及單體同步EIS，八個(gè)溫度監(jiān)測(cè)接口產(chǎn)品介紹1470E...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-28 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述EnergylabXM電化學(xué)工作站;定制化能源研究利器;同步陰陽(yáng)極阻抗測(cè)試;動(dòng)力電池超低阻抗測(cè)量;快速多波阻抗技術(shù);非線性諧波阻抗測(cè)量;產(chǎn)品介紹Ener...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述：傳遞函數(shù)包含電子響應(yīng)
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述極寬的頻率范圍(至32MHz)從10Hz到32MHz而分辨率達(dá)到百萬(wàn)分之0.015
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詳細(xì)摘要： 產(chǎn)品概述VersaScan微區(qū)掃描電化學(xué)工作站是一個(gè)建立在電化學(xué)掃描探針的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)上的，進(jìn)行超高測(cè)量分辨率及空間分辨率的非接觸式微區(qū)形貌及電化學(xué)微區(qū)測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-27 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶圓x射線晶體定向儀分揀系統(tǒng)用于全自動(dòng)分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測(cè)定等。Si | SiC | Al...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國(guó)Freiberg Instruments 電阻率測(cè)試儀（RESmap ）在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge |...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 測(cè)量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進(jìn)行測(cè)量，這需要一個(gè)測(cè)角儀。一個(gè)雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發(fā)散度。然而，其副作用是強(qiáng)烈的強(qiáng)度降低。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 晶錠XRD有著的XRD系統(tǒng)，用于單晶晶錠的自動(dòng)定向、傾斜和對(duì)準(zhǔn)研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其...
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詳細(xì)摘要： 在晶圓片的注入和光刻過(guò)程中，需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過(guò)程中，晶片必須正確地對(duì)準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： Mapping面掃臺(tái)允許使用受控的網(wǎng)格模式來(lái)探索整個(gè)樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉(zhuǎn)盤頂部容納額外的XY定位平臺(tái)。樣品表面可以根據(jù)用戶定...
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詳細(xì)摘要： 靈活的OEM少子壽命測(cè)試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測(cè)量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長(zhǎng)的硅片到不同層或金屬化的硅片的過(guò)程控制。標(biāo)準(zhǔn)的軟件接口，便于連接到許多...
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詳細(xì)摘要： 低成本桌面單點(diǎn)測(cè)量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無(wú)需內(nèi)置自動(dòng)化。可選手動(dòng)操作的z軸厚度高達(dá)156毫米的硅磚樣品，高達(dá)156毫米硅磚，結(jié)果可...
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詳細(xì)摘要： MDPmap被設(shè)計(jì)成一個(gè)緊湊的臺(tái)式非接觸電學(xué)表征工具，用于離線生產(chǎn)控制或研發(fā)，在穩(wěn)態(tài)或短脈沖激勵(lì)（μ-PCD）下，在一個(gè)寬的注入范圍內(nèi)測(cè)量參數(shù)，如載流子壽命、光...
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詳細(xì)摘要： PIDStudio是一個(gè)很的軟件，它非常容易操作和直觀，因?yàn)樗鶕?jù)我們用戶的反饋持續(xù)更新和改進(jìn)。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產(chǎn)和質(zhì)量監(jiān)控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC、PERC+太陽(yáng)能電池、鈣鈦礦等中的硅材料。
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 便攜式現(xiàn)場(chǎng)PID（電位誘發(fā)衰減）測(cè)試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無(wú)需拆裝，測(cè)試時(shí)間在8小時(shí)之內(nèi)（測(cè)量時(shí)間將少于8小時(shí)）。PIDcheck是與德國(guó)Fra...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽(yáng)能電池、晶體硅太陽(yáng)能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國(guó)FraunhoferC...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： SDT 型旋轉(zhuǎn)滴界面張力儀憑借的測(cè)量精度、寬廣的測(cè)量范圍、較低的樣本量需求和簡(jiǎn)易的樣品預(yù)處理方式，成為乳液和表面活性劑研發(fā)和質(zhì)控工作的理想解決工具。這款張力儀能...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-04-02 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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