Thermo Scientific ESCALAB™XI 能滿足您對(duì)分析性能和靈活性的要求+X射線光電子能譜儀是一款具有高靈敏度和高分辨率能實(shí)現(xiàn)表面元素定量的儀器;同時(shí)，也是一款具有成像功能以及其他可擴(kuò)展功能能實(shí)現(xiàn)多技術(shù)連用的平臺(tái)。
ESCALAB XI配備了微聚焦單色化X射線源，旨在提供的XPS分析性能+X射線光電子能譜儀能滿足大吞吐量樣品測(cè)試需求多技術(shù)能力、一系列靈活的樣品制備室及樣品處理設(shè)備，使該儀器在解決任何表面分析問(wèn)題時(shí)都能游刃有余。利用*的 Avantage 數(shù)據(jù)采集和處理系統(tǒng)，從測(cè)試數(shù)據(jù)中挖掘盡可能多的信息。
The ESCALAB XI+ X-ray Photoelectron Spectrometer (XPS) Microprobe Features:
· 高靈敏度能譜
· 小面積 XPS
· 深度剖析能力
· 角分辨 XPS
· 標(biāo)配離子散射能譜 (ISS)功能
· 標(biāo)配反射電子能量損失譜 (REELS)功能
· 標(biāo)配“樣品預(yù)處理"室
· 多技術(shù)分析的多功能性
· 多個(gè)樣品制備技術(shù)可選
· 全自動(dòng)無(wú)人值守式分析
· 多樣品分析
單色化X射線源
· 雙晶體微聚焦單色器配備一個(gè) 500 mm 直徑的羅蘭圓，使用鋁陽(yáng)極靶
· 樣品 X 射線光斑尺寸可選擇范圍為 200 至 900 μm
透鏡、分析儀和檢測(cè)器
· 透鏡、分析儀和檢測(cè)器構(gòu)成XPS檢測(cè)系統(tǒng)+XPS光譜儀在成像和微區(qū)方面的分析能力都是無(wú)二的
· 兩種類型的檢測(cè)器可以確保為每種分析提供檢測(cè)——用于成像的二維檢測(cè)器和適用于高計(jì)數(shù)率檢測(cè)的電子倍增器
· 透鏡配備了兩個(gè)電腦控制的虹膜機(jī)構(gòu) - 一個(gè)允許用戶將透鏡的視野控制在<20μm以下進(jìn)行微區(qū)分析，另一個(gè)控制透鏡的接收角度，以便獲得高質(zhì)量角度分辨數(shù)據(jù)
· 180° 半球型能量分析器
深度剖析
· 數(shù)控式 EX06 離子槍是一款高性能的離子源，哪怕在使用低能離子源時(shí)也有著很好的性能
· 提供方位角樣品旋轉(zhuǎn)
· 多技術(shù)能力
· 可配備其他分析技術(shù)而不降低 XPS 檢測(cè)性能
· 使用 EX06 離子槍時(shí)透鏡組和能量分析儀的電源可反向(確保離子散射能譜 (ISS) 可用)
· 電子槍可加壓升至 1000 V，為 REELS 提供優(yōu)異的離子源
技術(shù)選項(xiàng)
· 非單色化 X 射線光源的XPS分析
· AES(俄歇電子能譜)
· UPS(紫外光電子能譜)
真空系統(tǒng)
· 5 mm 厚高導(dǎo)磁m金屬分析室，提高磁屏蔽效率
· 與使用內(nèi)部或外部屏蔽的方法相比，屏蔽效能更佳
樣品制備
· 系統(tǒng)標(biāo)配一體化的快速進(jìn)樣室和制備室
· 額外的制備室可選
Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)
· 集成了測(cè)試分析的所有方面，包括儀器控制、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理和報(bào)告生成
· 允許遠(yuǎn)程控制，并且可輕松與第三方軟件交互(例如 Microsoft Word)
· 管理從樣品載入到報(bào)告導(dǎo)出的整個(gè)分析過(guò)程
| | 貨號(hào) | 單位規(guī)格 | 分析儀類型 | 深度剖析 | ImageResolution | 單價(jià)(CNY) |
| ☆ | IQLAAHGABLFAQLMBIY | - | 180°double focusing hemispherical analyzer with dual detector system for spectroscopy and imaging. | EX06 Ion Source | | 申請(qǐng)報(bào)價(jià) |
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