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歐美大地儀器設(shè)備中國(guó)有限公司


Dimension lCON 原子力顯微鏡

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更新時(shí)間:2024-07-16 07:55:23瀏覽次數(shù):148次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

用途:

詳細(xì)介紹


Dimension ICON 原子力顯微鏡儀器,集成了過(guò)去幾十年的研究和技術(shù)創(chuàng)新經(jīng)驗(yàn),為納米尺度研究提供優(yōu)秀的功能、性能和表現(xiàn)。為納米力學(xué)、電學(xué)、電化學(xué)等研究領(lǐng)域的表征工作提供了功能模塊方案,使得對(duì)空氣、液體或電化學(xué)環(huán)境里的材料和納米系統(tǒng)的定量表征更加簡(jiǎn)便。

Dimension lcon® AFM 平臺(tái)上可提供不同的功能配置,給研究領(lǐng)域提供優(yōu)秀的技術(shù)和性能套裝:

納米力學(xué)

通過(guò)一系列的力學(xué)測(cè)量模式,能全面地檢測(cè)聚合物分子材料中的微小結(jié)構(gòu),分辨率能達(dá)到亞分子尺度級(jí)別

全新的AFM-nDMA™模式下,納米力學(xué)性質(zhì)測(cè)量數(shù)據(jù)與傳統(tǒng)DMA測(cè)試和納米壓痕測(cè)試結(jié)果緊密吻合

測(cè)試范圍包括了從軟、粘的凝膠和復(fù)合材料到堅(jiān)硬的金屬和陶瓷材料,提供納米尺度的定量表征

納米電學(xué)

一套集成了一系列的AFM電學(xué)測(cè)量技術(shù)的系統(tǒng)

全新的DataCube模式,得到圖像上每個(gè)像素點(diǎn)的電學(xué)譜線信息,并關(guān)聯(lián)同步力學(xué)性質(zhì)表征

一次測(cè)量得到傳統(tǒng)AFM模式無(wú)法得到的完備電學(xué)信息

納米電化學(xué)

基于AFM平臺(tái)的電化學(xué)(EC-AFM)和納米掃描電化學(xué)顯微鏡(AFM-SECM)模式可靠地表征材料電化學(xué)性質(zhì)

掃描電化學(xué)顯微鏡空間分辨率可達(dá)<100 nm 級(jí)別

同步測(cè)量材料的電化學(xué)、電學(xué)和力學(xué)性質(zhì)

高空間分辨率下的完備表面表征

采用大樣品臺(tái)的Dimension lcon AFM幫助提升了原子力顯微鏡技術(shù)和材料科學(xué)領(lǐng)域的發(fā)展,在世界范圍內(nèi)已有超過(guò)干篇的科研文獻(xiàn)發(fā)表。在此平臺(tái)上集成了30多年來(lái)原子力顯微鏡的技術(shù),為納米力學(xué)、電學(xué)、電化學(xué)研究提供了特制的表征技術(shù)。您會(huì)從中獲得商用AFM設(shè)備的高性能表現(xiàn),新技術(shù)進(jìn)展,優(yōu)異的測(cè)量重復(fù)性和操作簡(jiǎn)便性。


 

Dimension lcon 是世界范圍內(nèi)廣泛采用的大樣品臺(tái)AFM設(shè)備,擁有業(yè)界的可擴(kuò)展性、的性能表現(xiàn)和測(cè)量效率:

同一個(gè)AFM平臺(tái)上的多種關(guān)聯(lián)測(cè)量技術(shù)和模式適用多種樣品尺寸或多個(gè)樣品,的可擴(kuò)展性。

的傳感器設(shè)計(jì),在閉環(huán)條件下,也能實(shí)現(xiàn)大樣品臺(tái)、針尖掃描的AFM具有與開(kāi)環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平,且具有的掃描分辨率。

智能成像極大地簡(jiǎn)化了參數(shù)調(diào)整的復(fù)雜性。利用探針和樣品之間的峰值力做反饋,采用2kHz的頻率在樣品表面做力曲線,探針和樣品間的相互作用力可達(dá)10pN,能對(duì)很黏很軟的樣品實(shí)現(xiàn)高分辨成像,同時(shí)直接得到納米尺度的定量力學(xué)信息。

測(cè)試性能和可重復(fù)性,的熱漂移水平,熱漂移低于200pm/分鐘,真正獲得無(wú)扭曲圖像。

快速掃描和自動(dòng)化模式可將大量測(cè)試集成在預(yù)設(shè)模式下,達(dá)到的測(cè)試效率。掃描速度可達(dá)91HZ。

XYZ閉環(huán)掃描器的新設(shè)計(jì),使儀器在較高掃描速度工作時(shí),也不降低圖像質(zhì)量,具有更大的數(shù)據(jù)采集效率。

既有振幅調(diào)制又有頻率調(diào)制的峰值力開(kāi)爾文探針顯微鏡,可測(cè)量高達(dá)100V的電勢(shì)差,同時(shí)還可測(cè)是樣品的模量和粘附力力學(xué)信息。

多維1-V曲線測(cè)量,寬電流測(cè)試范圍,電流測(cè)量范圍從100fA至1uA。

全套的定量納米力學(xué)測(cè)量功能,使得用戶可以完整地表征樣品各種力學(xué)性能,包括流變學(xué)特性。

全套的納米電學(xué)測(cè)量功能,使得用戶可以完整地表征樣品的導(dǎo)電性、功函數(shù)、介電特性以及帶電狀態(tài)。

全套的納米電化學(xué)測(cè)量功能,使得用戶在新能源、催化、腐蝕等方面具有全新的解決方案。


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