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四探針電阻率測定儀

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產(chǎn)品型號RHA--FT-341

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更新時間：2023-04-19 13:27:46瀏覽次數(shù)：102次

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產(chǎn)品簡介

雙電測電四探針方阻電阻率測試儀四探針電阻率測定儀型號：RHA-FT-341應用說明Widelyused：覆蓋膜;導電高分子膜

詳細介紹

雙電測電四探針方阻電阻率測試儀四探針電阻率測定儀型號：RHA-FT-341

應用說明Widely used：

覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.

二．描述Description：

采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.

雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.

三.參數(shù)資料Parameters

規(guī)格型號/ model	FT-341
1.方塊電阻sheetresistance	10-5～2×105Ω/□
2.電阻率Resistivity	10-6～2×106Ω-cm
3.測試電流Test current	μA.μμA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度Current	±% accuracy
5.電阻精度Resistance	≤% accuracy
6.顯示讀數(shù)display	屏液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率Large screen LCD: Resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
7.測試方式	test mode雙電測量Double electrical measurement
8.電源Power	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗 lt;30W
9.誤差errors	≤3%（標準樣片結果）（standard samples）
10.選購功能choose to buy	選購軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺；5.標準電阻. software; 2. square probe; 3. linear probe;
11.測試探頭test probe	探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copperhemispherical needles.