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渦流測(cè)厚儀絕緣性覆蓋層測(cè)厚儀陽(yáng)極氧化膜測(cè)厚儀

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產(chǎn)品型號(hào)BXS10-ED400

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更新時(shí)間：2023-12-17 11:16:55瀏覽次數(shù)：158次

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儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。

詳細(xì)介紹

渦流測(cè)厚儀 絕緣性覆蓋層測(cè)厚儀 陽(yáng)極氧化膜測(cè)厚儀

型號(hào)：BXS10-ED400

ED400型渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能顯著提高。
儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。

儀器特點(diǎn)
       ED400型渦流測(cè)厚儀與ED300型相比，具有如下特點(diǎn)：
＊量程寬   ED400型渦流測(cè)厚儀量程達(dá)到0～500μm。
＊精度高  測(cè)量精度達(dá)到2%。
＊分辨率高   分辨率達(dá)到0.1μm。
＊校正簡(jiǎn)便   只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn)，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
＊基體導(dǎo)電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí)，測(cè)量誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提高  采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性提高。
＊穩(wěn)定性提高   采用的溫度補(bǔ)償技術(shù)，測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
＊探頭芯壽命長(zhǎng)   采用高強(qiáng)度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計(jì)，探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。
＊探頭可互換  外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無(wú)需返廠(chǎng)維修。

技術(shù)參數(shù)：

測(cè)量范圍：     0～500μm
測(cè)量精度：     0～50μm：±1μm；
                   50～500μm：±2%
分辨率：      0～50μm：0.1μm；
                    50～500μm：1μm；
                   0～500μm：1μm（可選）
使用溫度：     5～45℃
外形尺寸：     150mm×80mm×30mm
重      量：     280g

標(biāo)準(zhǔn)配置