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P-7 臺階儀/探針式輪廓儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量

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產(chǎn)品型號P-7

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更新時間：2023-07-06 15:27:08瀏覽次數(shù)：351次

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產(chǎn)品簡介

探針式輪廓儀/臺階儀/P-7StylusProfilerP-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境

詳細(xì)介紹

探針式輪廓儀 / 臺階儀 / P-7 Stylus Profiler
P-7支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量，其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。

產(chǎn)品描述
P-7建立在市場的P-17臺式探針輪廓分析系統(tǒng)的成功基礎(chǔ)之上。它保持了P-17技術(shù)的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進行2D和3D測量，其掃描可達(dá)150mm而無需圖像拼接。

主要功能
臺階高度：幾納米至1000μm

微力恒力控制：至50mg

樣品全直徑掃描，無需圖像拼接

視頻：500萬像素高分辨率彩色攝像機

圓弧校正：消除由于探針的弧形運動引起的誤差

軟件：簡單易用的軟件界面

生產(chǎn)能力：通過測序，模式識別和SECS / GEM實現(xiàn)全自動化

主要應(yīng)用
臺階高度：2D和3D臺階高度

紋理：2D和3D粗糙度和波紋度

形狀：2D和3D翹曲和形狀

應(yīng)力：2D和3D薄膜應(yīng)力

缺陷復(fù)檢：2D和3D缺陷表面形貌

工業(yè)應(yīng)用
大學(xué)、研究實驗室和研究所

半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體

LED：發(fā)光二極管

太陽能

MEMS：微機電系統(tǒng)

數(shù)據(jù)存儲

汽車

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