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XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀

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更新時(shí)間：2024-04-15 11:51:32瀏覽次數(shù)：508次

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產(chǎn)品簡介

XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀采用全新的光路設(shè)計(jì)和光學(xué)部件，大幅度提高各元素特征X射線強(qiáng)度（CPS），從而使儀器分析精度得到突破性提高，并且縮短了樣品測(cè)定時(shí)間。

詳細(xì)介紹

XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀

XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀特點(diǎn)：
* 采用全新的光路設(shè)計(jì)和光學(xué)部件，大幅度提高各元素特征X射線強(qiáng)度（CPS），從而使儀器分析精度得到突破性提高，并且縮短了樣品測(cè)定時(shí)間。
* 對(duì)影響儀器穩(wěn)定性的主要環(huán)節(jié)做了實(shí)質(zhì)性改進(jìn)，從而為顯著提高儀器的穩(wěn)定性創(chuàng)造了條件。
* 對(duì)影響儀器可靠性的主要環(huán)節(jié)做了全新設(shè)計(jì)，顯著提高了儀器*連續(xù)工作的可靠性。
* 元素譜峰束集電路采用工業(yè)控制機(jī)內(nèi)插式高速M(fèi)CA卡。
* 本儀器為多道同定型WDXRF光譜儀，每個(gè)元素一個(gè)通道，多數(shù)部件可以互換，穩(wěn)定分析，速度快，真空室小，故障率低。
* 分析元素多（Na~U），分析含量范圍廣ppm～100％；
* 樣品處理相對(duì)簡單；
* 試樣形態(tài)多樣化（固體、液體、粉末等）；
* 可快速分析粉末壓片，玻璃熔片和塊狀物料；非破損分析；
* 采用多路數(shù)字MCA實(shí)時(shí)檢測(cè)，不僅便于儀器調(diào)試和故障診斷，并可進(jìn)一步提高儀器的分析精度和穩(wěn)定性。

在水泥行業(yè)應(yīng)用：
XF-8100非常適合在大、中、小型水泥廠（單、雙窯）做質(zhì)量過程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、礬土、菱鎂礦和其他礦物）中主量和次量氧化物的分析;生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常規(guī)元素的測(cè)定。

關(guān)鍵詞：熒光光譜儀光譜儀