不同元素發(fā)出的特征X射線(xiàn)能量和波長(zhǎng)各不相同,因此通過(guò)對(duì)X射線(xiàn)的能量或者波長(zhǎng)的測(cè)量即可知道它是何種元素發(fā)出的,進(jìn)行元素的定性分析。同時(shí)樣品受激發(fā)后發(fā)射某一元素的特征X射線(xiàn)強(qiáng)度跟這元素在樣品中的含量有關(guān),因此測(cè)出它的強(qiáng)度就能進(jìn)行元素的定量分析。
X熒光光譜儀主要用途:
X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線(xiàn)的強(qiáng)度,可以 測(cè)定元素含量。
近年來(lái),X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展,已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域,特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析,可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品,分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
X射線(xiàn)熒光分析儀原理及特點(diǎn):
熒光,顧名思義就是在光的照射下發(fā)出的光。
從原子物理學(xué)的知識(shí)我們知道,對(duì)每一種化學(xué)元素的原子來(lái)說(shuō),都有其特定的能級(jí)結(jié)構(gòu),其核外電子都以各自的能量在各自的固定軌道上運(yùn)行,內(nèi)層電子在足夠能量的X射線(xiàn)照射下脫離原子核的束縛,成為自由電子,我們說(shuō)原子被激發(fā)了,處于激發(fā)態(tài),這時(shí),其他的外層電子便會(huì)這一空位,也就是所謂躍遷,同時(shí)以發(fā)出X射線(xiàn)的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級(jí)結(jié)構(gòu)都是特定的,它被激發(fā)后躍遷時(shí)放出的X射線(xiàn)的能量也是特定的,稱(chēng)之為特征X射線(xiàn)。通過(guò)測(cè)定特征X射線(xiàn)的能量,便可以確定相應(yīng)元素的存在,而特征X射線(xiàn)的強(qiáng)弱(或者說(shuō)X射線(xiàn)光子的多少)則代表該元素的含量。
量子力學(xué)知識(shí)告訴我們,X 射線(xiàn)具有波粒二象性,既可以看作粒子,也可以看作電磁波??醋髁W訒r(shí)的能量和看作電磁波時(shí)的波長(zhǎng)有著一一對(duì)應(yīng)關(guān)系。這就是的普朗克公式:E=hc/λ。顯然,無(wú)論是測(cè)定能量,還是波長(zhǎng),都可以實(shí)現(xiàn)對(duì)相應(yīng)元素的分析,其效果是一樣的。
為了滿(mǎn)足現(xiàn)代企業(yè)管理和生產(chǎn)要求,必須對(duì)生產(chǎn)過(guò)程中的原材料的化學(xué)成分進(jìn)行及時(shí)、準(zhǔn)確的分析和控制,傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法已經(jīng)不能滿(mǎn)足生產(chǎn)過(guò)程的需要。目前眾多新型冶煉企業(yè)為了達(dá)到良好的質(zhì)量控制指標(biāo),大都配備了相應(yīng)的分析儀。
X熒光光譜儀分類(lèi):
X熒光光譜儀有兩種基本類(lèi)型:波長(zhǎng)色散型(WD-XRF)和能量色散型(ED-XRF)。
以X熒光的波粒二象性中波長(zhǎng)特征為原理的稱(chēng)為波長(zhǎng)色散型,以能量特征為原理的稱(chēng)為能量色散型。
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