污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過(guò)濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過(guò)濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
深圳市世紀(jì)遠(yuǎn)景電子設(shè)備有限公司
會(huì)員1.png)
深圳市世紀(jì)遠(yuǎn)景電子設(shè)備有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)其他
所 在 地
聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2024-02-01 12:22:42瀏覽次數(shù)：159次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線X射線光電子能譜儀- XPS
Thermo Scientific™ K-Alpha™ X 射線光電子能譜 (XPS) 系統(tǒng)升級(jí)了核心 XPS 性能，具有更快的數(shù)據(jù)采集速度、更好的檢測(cè)能力和更簡(jiǎn)單化學(xué)態(tài)分辨分析。 激動(dòng)人心的新硬件功能（如 XPS SnapMap）與全新的軟件功能（如 eSP 和 KnowledgeView 功能）整合，有助于進(jìn)行能譜識(shí)別。 此外還有新的選件可供選擇，包括全自動(dòng)紫外光電子能譜 (UPS)、真空傳送模塊和 Thermo Scientific™ MAGCIS™ 離子源，開啟了實(shí)驗(yàn)新契機(jī)。
本儀器設(shè)備是由Thermo Fisher 公司推出的一款高性能、高測(cè)試效用于表面分析技術(shù)一款X射線光電子能譜(XPS) 。
儀器型號(hào)：Thermo SCIENTIFIC K-Alpha，是一種分析材料表面化學(xué)的技術(shù)。
單色器：K-Alpha X射線單色器可選擇30 µm至400 µm大小的分析區(qū)域，步長(zhǎng) 5 µm。將分析區(qū)域調(diào)到感興趣的特征區(qū)域，使得信號(hào)。高效電子光學(xué)透鏡、半球形能量分析器和探測(cè)器使得儀器具有高靈敏探測(cè)能力，能快速獲得數(shù)據(jù)。
深度剖析：K-Alpha用標(biāo)準(zhǔn)離子源深入表面層以下進(jìn)行分析。自動(dòng)優(yōu)化源和自動(dòng)供氣確保優(yōu)良的性能和實(shí)驗(yàn)重復(fù)性。
化學(xué)態(tài)圖像：K-Alpha 能得到表面化學(xué)態(tài)像。用于分析樣品上的微小特征，能得到整個(gè)樣品臺(tái)大小的大樣品圖像。的光學(xué)觀察系統(tǒng)可將XPS像與儲(chǔ)存的光學(xué)圖像重疊在一起，這一強(qiáng)大功能可用于識(shí)別和定量分析表面化學(xué)組分的分布。
絕緣樣品分析：源采用離子和極地能量的電子，可使得樣品沒有荷電積累。在大多數(shù)情況下，無(wú)需荷電校準(zhǔn)。
玻璃涂層
聚合物
電池
石墨烯
太陽(yáng)能電池
OLED
金屬和氧化物
生物表面
薄膜
半導(dǎo)體
陶瓷
催化劑
Al Kα X 射線單色器可用于化學(xué)態(tài)高分辨分析
微聚焦 X 射線探針可用于化學(xué)態(tài)成像分析
的光學(xué)觀察系統(tǒng)可用于對(duì)中樣品上微小結(jié)構(gòu)和污染點(diǎn)分析位置
聚焦深度剖析離子源可用于單層和多層膜分析
一鍵式中和系統(tǒng)可用于精確的小面積分析
128 通道探測(cè)器用于快速并行快照式采集數(shù)據(jù)
單色器和電子分析系統(tǒng)的發(fā)展使得 K-Alpha 在原來(lái)的基礎(chǔ)上能大幅提高 XPS 性能。 用戶使用全新的 X 射線單色器可選擇 50 µm 至 400 µm 大小的分析區(qū)域，步長(zhǎng)為 5 µm。 分析區(qū)域能調(diào)到感興趣的特征區(qū)域，以獲得的信號(hào)。 高效電子光學(xué)透鏡、半球形能量分析器和探測(cè)器使得儀器具有高靈敏探測(cè)能力，能快速獲得數(shù)據(jù)。
K-Alpha 能譜儀的荷電補(bǔ)償使得儀器分析絕緣樣品就像分析非絕緣樣品一樣容易。 賽默飛世爾科技的雙束中和槍采用離子和極低能量的電子（低于 1 eV），可使得樣品沒有荷電積累。 在大多數(shù)情況下，無(wú)需荷電校正，讓分析絕緣樣品數(shù)據(jù)同數(shù)據(jù)采集一樣簡(jiǎn)單。
XPS SnapMap 與擁有的 K-Alpha 反射光學(xué)系統(tǒng)相結(jié)合，能提供快速 XPS 成像，實(shí)現(xiàn)特征位置的對(duì)中和鑒定。 XPS SnapMap 能生成幾 mm2 面積的圖像，所需時(shí)間遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于生成全圖的時(shí)間，非常適合快速鑒定光學(xué)觀察無(wú)法輕易觀察到的分析區(qū)域。 XPS SnapMap 還能用在實(shí)驗(yàn)中，進(jìn)行快速定量能譜成像。
K-Alpha 能得到表面化學(xué)態(tài)像。 用于分析樣品上的微小特征，能得到整個(gè)樣品臺(tái)大小的大樣品圖像。 的光學(xué)觀察系統(tǒng)可將 XPS 像與儲(chǔ)存的光學(xué)圖像重疊在一起，這一強(qiáng)大功能可用于識(shí)別和定量分析表面化學(xué)組分的分布。
K-Alpha 采用標(biāo)準(zhǔn)離子源或 MAGCIS（可選雙模單原子和氣體團(tuán)簇離子源），能深入表面層以下進(jìn)行分析。 自動(dòng)優(yōu)化源和自動(dòng)供氣確保優(yōu)良的性能和實(shí)驗(yàn)重復(fù)性。
K-Alpha 具有的性能和的功能，可滿足科研和常規(guī)測(cè)量對(duì) XPS 需求。 直觀的操作（由 Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)導(dǎo)航）使得 K-Alpha 適合于多用戶、設(shè)備共享用戶和著重高效操作和大量分析的 XPS 專家。
三個(gè)攝像頭方便樣品導(dǎo)航和精確對(duì)中。 設(shè)計(jì)的光學(xué)成像系統(tǒng)操作預(yù)存有用戶的使用經(jīng)驗(yàn)，減少了學(xué)習(xí)的彎路，大大提高了測(cè)試效率。
K-Alpha 的分析室內(nèi)安裝標(biāo)準(zhǔn)樣品，用于必要的校正。只需按下一鍵，K-Alpha 便可在數(shù)分鐘內(nèi)完成自校正。 確保用戶數(shù)據(jù)非?？尚拧?/p>
您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
環(huán)保在線 設(shè)計(jì)制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
