ATP5104-紫外增強(qiáng)高性能光纖光譜儀 ATP5104是奧譜天成針對(duì)紫外光譜，特別研制的高性能紫外增強(qiáng)型微型光纖光譜儀，它采用3072像素的紫外增敏線(xiàn)性CCD，可以適應(yīng)165-1100nm波長(zhǎng)范圍的測(cè)試，CCD檢測(cè)器曝光時(shí)間可以控制在1ms之內(nèi)

詳細(xì)介紹

ATP5104-紫外增強(qiáng)高性能光纖光譜儀

產(chǎn)品概述

ATP5104是奧譜天成針對(duì)紫外光譜，特別研制的高性能紫外增強(qiáng)型微型光纖光譜儀，它采用3072像素的紫外增敏線(xiàn)性CCD，可以適應(yīng)165-1100nm波長(zhǎng)范圍的測(cè)試，CCD檢測(cè)器曝光時(shí)間可以控制在1ms之內(nèi)，同時(shí)，奧譜天成為ATP5104特別定制了超低噪聲CCD信號(hào)處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業(yè)界*水平，可以幫助您可以獲得*的光譜信噪比。

ATP5104是紫外、可見(jiàn)、近紅外光譜應(yīng)用的理想選擇，有不同的狹縫、光柵、反射鏡、濾光片可以選擇，可以根據(jù)您的需求，配置適合不同應(yīng)用場(chǎng)合的光譜儀，光譜范圍從165nm起至1050nm，光譜分辨率可在0.5到4.0nm之間選擇，奧譜天成也可為OEM客戶(hù)提供定制選擇。

ATP5104可以接收SMA905接口光纖輸入或者自由空間輸入的待測(cè)光，根據(jù)設(shè)定的積分時(shí)間進(jìn)行測(cè)量，將測(cè)量結(jié)果通過(guò)USB2.0（高速）或者UART輸出；

ATP5104-紫外增強(qiáng)高性能光纖光譜儀

特點(diǎn)：

紫外增強(qiáng)高性能背照式CCD
專(zhuān)門(mén)針對(duì)紫外優(yōu)化的光路和結(jié)構(gòu)；
探測(cè)器：背照式CCD
探測(cè)器像素：3072
超低噪聲CCD信號(hào)處理電路
光譜范圍: 165-1100 nm
光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
光路結(jié)構(gòu)：交叉C-T
積分時(shí)間：2ms-130s
供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光輸入接口：SMA905或自由空間
數(shù)據(jù)輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
20針雙排可編程外擴(kuò)接口

ATP5104-紫外增強(qiáng)

典型應(yīng)用：

拉曼光譜儀
微量、快速分光光度計(jì)；
光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
透過(guò)率、吸光度檢測(cè)；
反射率檢測(cè)；
紫外、可見(jiàn)和短波近紅外
波長(zhǎng)檢測(cè)

探測(cè)器
類(lèi)型	線(xiàn)陣背照式CCD
探測(cè)光譜范圍	165-1100 nm
有效像素	3072
像元尺寸	600μm×8μm
全量程范圍	~200 ke^-
靈敏度	6.5 uV/e-
暗噪聲	6 e-
光學(xué)參數(shù)
波長(zhǎng)范圍	165-1100 nm
光學(xué)分辨率	0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍）
性噪比	>1000:1
動(dòng)態(tài)范圍	3000：1
工作溫度	-10-40 ^oC
工作濕度	< 85%RH
光路參數(shù)
光學(xué)設(shè)計(jì)	f/4 交叉非對(duì)稱(chēng)C-T光路
焦距	40 mm for incidence / 60 mm for output
入射狹縫寬度	5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制
入射光接口	SMA905光纖接口、自由空間
電氣參數(shù)
積分時(shí)間	1 ms - 130 second
數(shù)據(jù)輸出接口	USB 2.0
ADC位深	18 bit
供電電源	DC 5V±10%
工作電流	<2.3A
存儲(chǔ)溫度	-20°C to +70°C
操作溫度	-10°C to +40°C
物理參數(shù)
尺寸	102×720×34 mm³
重量	0.3 kg
Sealing	Anti-sweat