ATP5105高靈敏度紫外微型制冷光纖光譜儀ATP5105是奧譜天成研制的高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀，它采用204864像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導體制冷技術，CCD可工作在設定的恒溫環(huán)境（Z低可達-15C），從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了的信噪比（比同類競爭對手提高了約2倍），而且提高了ATP5105的測量可靠性，測量結果不隨環(huán)境溫度

詳細介紹

ATP5105高靈敏度紫外微型制冷光纖光譜儀

產(chǎn)品概述

ATP5105是奧譜天成研制的高性能紫外增強制冷型微型光纖光譜儀，它采用2048×64像素的制冷型線性CCD，CCD采用半導體制冷技術，CCD可工作在設定的恒溫環(huán)境（zui低可達-15ºC），從而大幅降低了傳感器的噪聲，獲得了的信噪比（比同類競爭對手提高了約2倍），而且提高了ATP5105的測量可靠性，測量結果不隨環(huán)境溫度變化。

同時，奧譜天成為ATP5105特別定制了超低噪聲CCD信號處理電路，其量化噪聲小于3 counts，為業(yè)界*水平。

ATP5105可接收SMA905光纖輸入光或者自由空間光，通過USB2.0或者UART端口，輸出測量所得的光譜數(shù)據(jù)。

ATP5105只需要一個5V直流電源供電，非常便于集成使用。

ATP5105-高靈敏度、紫外增強微型光纖光譜儀（制冷型背照式CCD）

特點：

紫外增強高性能背照式CCD
專門針對紫外優(yōu)化的光路和結構；
探測器：背照式CCD（制冷至-15^oC）
探測器像素：3072
超低噪聲CCD信號處理電路
光譜范圍: 165-1100 nm
光譜分辨率: 0.1-4 nm(取決于光譜范圍、狹縫寬度)
光路結構：交叉C-T
積分時間：2ms-130s
供電電源：DC 5V±10% @ <2.3A
18 bit, 570KHz A/DConverter
光輸入接口：SMA905或自由空間
數(shù)據(jù)輸出接口: USB2.0(High speed)或UART
20針雙排可編程外擴接口

典型應用：

拉曼光譜儀
微量、快速分光光度計；
光譜分析/輻射分光分析/分光光度分析
透過率、吸光度檢測；
反射率檢測；
紫外、可見和短波近紅外
波長檢測

探測器
類型	線陣背照式CCD (制冷到 -15ºC)
探測光譜范圍	165-1100 nm
有效像素	3072
像元尺寸	600μm×8μm
全量程范圍	~200 ke^-
靈敏度	6.5 uV/e-
暗噪聲	6 e-
光學參數(shù)
波長范圍	165-1100 nm
光學分辨率	0.1-4 nm （取決于狹縫、光譜范圍）
性噪比	>1300:1
動態(tài)范圍	5000：1
工作溫度	-10-40 ^oC
工作濕度	< 85%RH
光路參數(shù)
光學設計	f/4 交叉非對稱C-T光路
焦距	40 mm for incidence / 60 mm for output
入射狹縫寬度	5、10、25、50、100、150、200 μm 可選，其他尺寸可定制
入射光接口	SMA905光纖接口、自由空間
電氣參數(shù)
積分時間	1 ms - 130 second
數(shù)據(jù)輸出接口	USB 2.0
ADC位深	18 bit
供電電源	DC 5V±10%
工作電流	<2.3A
存儲溫度	-20°C to +70°C
操作溫度	-10°C to +40°C
物理參數(shù)
尺寸	120×80×46 mm³
重量	0.5 kg
Sealing	Anti-sweat