KGDJS-2040可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品用途：
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱的作用是提供高溫、低溫、恒溫、恒濕、交變濕熱等試驗(yàn)環(huán)境，并滿足相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)對試驗(yàn)箱的要求，主要適用于電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件進(jìn)行耐寒試驗(yàn)、溫濕度變化或劇變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn);特別適用于進(jìn)行電子、電工產(chǎn)品的環(huán)境模擬溫濕度試驗(yàn)。
KGDJS-2040可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱產(chǎn)品特點(diǎn)：
高低溫交變濕熱試驗(yàn)箱系統(tǒng)利用*的環(huán)境模式技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)和制造，產(chǎn)品達(dá)到*水平。采用能量調(diào)節(jié)技術(shù)、節(jié)能設(shè)計(jì)、密封性好、高強(qiáng)度、易清洗，符合審美觀的標(biāo)準(zhǔn)化整體式結(jié)構(gòu)箱體;具有操作簡便、控制系統(tǒng)自動(dòng)化程度高、系統(tǒng)運(yùn)行穩(wěn)定、*運(yùn)行時(shí)間長等優(yōu)點(diǎn)。
KGDJS-2040可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱使用條件：
1.環(huán)境溫度：5℃～+32℃
2.周圍不應(yīng)有高濃度粉塵、腐蝕性氣體和易燃易爆氣氛存在。
3.電壓AC 220V±10%;頻率：50Hz±5%;
4.滿足設(shè)備裝機(jī)容量要求
5.保證指標(biāo)正常使用環(huán)境溫度應(yīng)≤28℃
KGDJS-2040可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù)：
型號 | 溫濕度范圍 | 工作室尺寸(cm)
D深×W寬×H高 | 外型尺寸(cm)
D深×W寬×H高 | 技術(shù)指標(biāo) | 功率（KW) | 電源電壓 |
KGDJS-2008 |
-20℃～+150℃
20%～98%R.H | 40×40×50 | 95×95×136 | +20℃→+150℃
約60min
+20℃→-20℃
約40min
+20℃→-40℃
約60min
+20℃→-70℃
約90min
溫度波動(dòng)度
±0.5℃
濕度偏差：
±3.0%R.H
(濕度＞75%RH).
±5.0%RH
(濕度≤75%RH)
設(shè)定精度：溫度0.1℃，濕度1％RH
指示精度：溫度0.1℃、濕度1％RH | 5.0 | 220 |
KGDJS-2015 | 50×50×60 | 106×106×146 | 6.0 | 220 |
KGDJS-2020 | 60×50×75 | 116×106×161 | 6.5 | 220 |
KGDJS-2040 | 80×60×85 | 126×116×171 | 7.0 | 220 |
KGDJS-2080 | 80×100×100 | 130×155×185 | 7.5 | 380 |
KGDJS-2100 | 100×100×100 | 148×155×185 | 8.0 | 380 |
KGDJS-4008 |
-40℃～+150℃
20%～98%R.H | 40×40×50 | 95×95×136 | 5.5 | 220 |
KGDJS-4015 | 50×50×60 | 106×106×146 | 6.5 | 220 |
KGDJS-4020 | 60×50×75 | 116×106×161 | 7.0 | 220 |
KGDJS-4040 | 80×60×85 | 126×116×171 | 7.5 | 220 |
KGDJS-4080 | 80×100×100 | 130×155×185 | 8.0 | 380 |
KGDJS-4100 | 100×100×100 | 148×155×185 | 8.5 | 380 |
KGDJS-7008 |
-70℃～+150℃
20%～98%R.H | 40×40×50 | 95×95×136 | 6.5 | 380 |
KGDJS-7015 | 50×50×60 | 106×106×146 | 8.5 | 380 |
KGDJS-7020 | 60×50×75 | 116×106×161 | 9.5 | 380 |
KGDJS-7040 | 80×60×85 | 126×116×171 | 10.5 | 380 |
KGDJS-7080 | 80×100×100 | 130×155×185 | 11.5 | 380 |
KGDJS-7100 | 100×100×100 | 148×155×185 | 12.0 | 380 |
滿足標(biāo)準(zhǔn):
1. GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
2. GB/T 2423.2-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
3. GB/T 2423.4-2002 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Db交變濕熱試驗(yàn)
4. GB/T 5170-86 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備參數(shù)檢測方法(溫度試驗(yàn)設(shè)備)
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