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能量色散型X熒光光譜儀

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產(chǎn)品型號Ux-550

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更新時間：2024-06-27 14:55:11瀏覽次數(shù)：146次

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蘇州英蒔特儀器科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

●滿足RoHS/ELV/WEEE、無鹵、EN71等環(huán)保指令管控●采用全原裝美國進口Si-PIN電制冷探測器

詳細介紹

● 滿足RoHS/ELV/WEEE、無鹵、EN71等環(huán)保指令管控

● 采用全原裝美國進口Si-PIN電制冷探測器，無需液氮

● 一機多能，同一軟件界面還可實現(xiàn)金屬鍍層厚度以及合金成分分析

● 業(yè)內(nèi)提供開放式工作區(qū)，用戶根據(jù)需求可自行增加測試元素、測試工作區(qū)，無需廠家

產(chǎn)品概述

Ux-550 能量色散X熒光光譜儀是一款既可應(yīng)對RoHS/ELV/WEEE、無鹵、EN71等環(huán)保指令管控又可檢測金屬鍍層厚度以及合金成分的多功能機型，軟件精心設(shè)計的開放式工作曲線功能，無需廠家，用戶可根據(jù)測試需求自行增加測試元素、新建測試工作區(qū)，特別適用于多材料的工廠制程控制。

應(yīng)用領(lǐng)域

用于RoHS/WEEE/ELV指令管控的產(chǎn)品：電子電器、汽車行業(yè)、信息技術(shù)及通訊設(shè)備、電動工具、玩具等設(shè)備

用于無鹵指令管控的產(chǎn)品：含有Cl、Br等元素作阻燃劑的產(chǎn)品

用于銅合金、鐵合金、鋁合金、鈦合金、高溫合金及各種混雜合金等合金材料內(nèi)元素成分分析和含量測試

用于單、雙層金屬電鍍層厚度檢測

性能優(yōu)勢

快速、無損分析

通過X射線無損激發(fā)被測物元素，經(jīng)探測器（Si-PIN）采集其熒光強度，軟件只需數(shù)秒即可得到精準的元素含量、鍍層厚度和基材成分

開放式工作曲線，一機多能

業(yè)內(nèi)提供開放式工作區(qū)，無需廠家，用戶可根據(jù)測試需求增加測試元素和新建測試工作區(qū)，軟件除檢測RoHS有害元素外，還可對合金成分、金屬鍍層厚度檢測。

全譜圖對比，實時監(jiān)測物料變化

通過全譜圖對比功能，用戶很快就能識別同種物料是否發(fā)生材質(zhì)（成分、鍍層）變化，防止材料改變給產(chǎn)品質(zhì)量造成影響。

技術(shù)規(guī)格：

序號	項目	參數(shù)
1	元素范圍	S-U元素
2	分析軟件	Ux-550 RoHS專用版8.0
3	檢出下限	Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm, Cl≤50 ppm
4	工作環(huán)境	溫度 15～30℃ 濕度 ≤85% （不結(jié)露）
5	外形尺寸	680(W)x400(D)x390(H)mm
6	樣品腔尺寸	小樣品腔30035075mm，大樣品腔：無限制，小于30公斤
7	重量	約45Kg
8	電源	AC220V～240V、50Hz
9	額定功率	350W
10	測量時間	120－400S（系統(tǒng)自動調(diào)整）