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聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 環(huán)保在線(xiàn)廠(chǎng)商:美國(guó)FEI公司型號(hào):TecnaiF20到貨日期:2007年9月技術(shù)指標(biāo):加速電壓:200kV電子槍?zhuān)簾釄?chǎng)發(fā)射電子源,能量分辨率0.7eV
廠(chǎng) 商: 美國(guó)FEI公司
型 號(hào):Tecnai F20
到貨日期: 2007年9月
技術(shù)指標(biāo):
加速電壓:200kV 電子槍?zhuān)簾釄?chǎng)發(fā)射電子源,能量分辨率£0.7eV;
點(diǎn)分辨率:0 .24 nm;信息分辨率:0 .14 nm;線(xiàn)分辨率:0 .102 nm;
放大倍數(shù):25~1,030,000倍 STEM高角環(huán)形暗場(chǎng)像分辨率:0 .19 nm;
X射線(xiàn)能譜儀的元素分析范圍:Be4~U92
主要用途:
透射電子顯微鏡用來(lái)研究各種材料的物質(zhì)內(nèi)部顯微結(jié)構(gòu),配合能譜儀附件可以對(duì)各種元素進(jìn)行微區(qū)成分分析,提供了從微米直到原子尺度直接觀(guān)察形貌、界面及晶體缺陷的技術(shù),廣泛應(yīng)用于材料、物理、生物、化學(xué)、光電子及納米技術(shù)等領(lǐng)域。主要用途如下:觀(guān)察材料的內(nèi)部顯微結(jié)構(gòu),分析粒徑、相組成、生長(zhǎng)取向,分析晶體及晶界的缺陷等;進(jìn)行材料微區(qū)成分分析,及元素的線(xiàn)或面分布;利用高角環(huán)形暗場(chǎng)像,可以觀(guān)察輕重元素的分布。
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