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3BHB020720R0002 ABB 功率半導(dǎo)體器件 用于中電壓電路時(shí)

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在目前的中電壓大功率應(yīng)用領(lǐng)域﹐占主導(dǎo)地位的功率半導(dǎo)體器件主要有晶閘管、門極可關(guān)斷晶閘管(GTO)、絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)等,這些傳統(tǒng)的功率器件在實(shí)用方面﹐都存在一些缺陷。GTO在一個(gè)硅片上集成了數(shù)千個(gè)分離開關(guān)單元。在中電壓下,GTO呈現(xiàn)很小的通態(tài)損耗和合理的關(guān)斷損耗。然而,由于開關(guān)的不均勻,GTO需外加緩沖電路來維持工作。這些緩沖電路占用了整個(gè)設(shè)備的大部分體積,是引起設(shè)計(jì)復(fù)雜、成本高、損耗大的主要原因。

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在目前的中電壓大功率應(yīng)用領(lǐng)域﹐占主導(dǎo)地位的功率半導(dǎo)體器件主要有晶閘管、門極可關(guān)斷晶閘管(GTO)、絕緣柵雙極型晶體管(IGBT)等,這些傳統(tǒng)的功率器件在實(shí)用方面﹐都存在一些缺陷。GTO在一個(gè)硅片上集成了數(shù)千個(gè)分離開關(guān)單元。在中電壓下,GTO呈現(xiàn)很小的通態(tài)損耗和合理的關(guān)斷損耗。然而,由于開關(guān)的不均勻,GTO需外加緩沖電路來維持工作。這些緩沖電路占用了整個(gè)設(shè)備的大部分體積,是引起設(shè)計(jì)復(fù)雜、成本高、損耗大的主要原因。
相反,IGBT開關(guān)均勻,不需要緩沖電路,但通態(tài)損耗較大,而且用于中電壓電路時(shí),必須將低壓IGBT串聯(lián)使用,這樣大大增加了系統(tǒng)的復(fù)雜性和損耗,同時(shí)還降低了系統(tǒng)的可靠性。
在90年代中期,ABB科研人員通過優(yōu)化門級極驅(qū)動(dòng)單元和器件外殼設(shè)計(jì),采用集成門極等技術(shù),大大降低了GTO驅(qū)動(dòng)電路的要求,實(shí)現(xiàn)了GTO到HD-GT0的技術(shù)飛躍。但HD-GTO的通態(tài)損耗比較大,研究人員就借鑒了IGBT在向中,高電壓發(fā)展過程中所積累的各種降損耗技術(shù).對HD-GTO進(jìn)行了結(jié)構(gòu)優(yōu)化,并將它與其集成的硬驅(qū)動(dòng)門控單元一起命名為IGCT,集成門極換流晶閘管。
綜上所述,IGCT同時(shí)具有GTO的導(dǎo)通特性和IGBT的開關(guān)特性,特點(diǎn)是大電流、高電壓、開關(guān)頻率高、高可靠性、結(jié)構(gòu)緊湊和低損耗,性能明顯優(yōu)于目前廣泛使用的GTO和IGBT器件。
IGCT主要由主開關(guān)器件GTC及其相應(yīng)的集成門極驅(qū)動(dòng)單元所組成。GTC是由GTO演變而來,引入了緩沖層、陽極透明發(fā)射極和逆導(dǎo)結(jié)構(gòu)。其核心器件GTC如圖1所示的剖面結(jié)構(gòu)。
傳統(tǒng)的非穿通型概念是在厚的N基區(qū)上直接擴(kuò)散形成陽極。非穿通PN結(jié)在阻斷情況下電場分布呈三角形,如圖2中的曲線1所示.由圖2可以看出,器件總的阻斷電壓為電場在沿硅片厚度方向上的積分。因此,在材料所承受電場強(qiáng)度值不變的情況下,所需阻斷電壓越高,其硅片就越厚。這樣會(huì)導(dǎo)致器件的導(dǎo)通損耗和開關(guān)損耗也相應(yīng)增大。

3BHB020720R0002

In the current field of medium voltage and high power application, the dominant power semiconductor devices mainly include thyristor, gate switchable thyristor (GTO), insulated gate bipolar transistor (IGBT), etc. These traditional power devices have some defects in practical aspects. Gtos are assembled into thousands of separate switch units on a single silicon chip. At medium voltage, GTO presents small on-state loss and reasonable off loss. However, due to the uneven switching, the GTO requires an external buffer circuit to maintain operation. These buffer circuits occupy most of the volume of the whole equipment, which is the main cause of complicated design, high cost and large loss.

On the contrary, the IGBT switch uniform, do not need buffer circuit, but the on-state loss is large, and used in the medium voltage circuit, must be used in series low-voltage IGBT, which greatly increases the complexity of the system and loss, but also reduces the reliability of the system.
In the mid-1990s, ABB researchers made the technological leap from GTO HD-GT0 by optimizing the GTO drive unit and device shell design, and adopting integrated gate and other technologies to greatly reduce the requirements of GTO drive circuits. However, the on-state loss of HD-GTO is relatively large, so the researchers draw on various loss reduction technologies accumulated in the development of IGBT to medium and high voltage. The structure of HD-GTO is optimized, and it is named IGCT, integrated gate commutator thyristor, together with its integrated hard drive gated unit.
In summary, IGCT has both the on-off characteristics of GTO and the switching characteristics of IGBT. It is characterized by high current, high voltage, high switching frequency, high reliability, compact structure and low loss, and its performance is obviously better than that of GTO and IGBT devices widely used at present.
IGCT is mainly composed of the main switching device GTC and its corresponding integrated gate drive unit. GTC is evolved from GTO, introducing buffer layer, anode transparent emitter and inverse conduction structure. The profile structure of its core device GTC is shown in Figure 1.

The traditional concept of a non-penetrating type is to form an anode by direct diffusion over a thick N-base region. When non-through-PN junction is blocked, the electric field distribution is triangular, as shown in Fig.1. It can be seen from Figure 2 that the total blocking voltage of the device is the integral of the electric field along the thickness of the silicon wafer. Therefore, the higher the blocking voltage is required, the thicker the silicon wafer will be, while the maximum strength of the electric field applied to the material remains unchanged. In this way, the on-off loss and switching loss of the device will increase correspondingly.

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