污水處理設(shè)備 污泥處理設(shè)備 水處理過濾器 軟化水設(shè)備/除鹽設(shè)備 純凈水設(shè)備 消毒設(shè)備|加藥設(shè)備 供水/儲(chǔ)水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設(shè)備
陜西天士立科技有限公司
產(chǎn)品型號(hào)STD2000
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地西安市
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更新時(shí)間:2024-04-16 10:55:43瀏覽次數(shù):182次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來自 環(huán)保在線測(cè)量范圍 | 0~2000V,0~200Amm | 規(guī)格 | 30KG |
---|---|---|---|
精度 | 1nA,1mV | 適用范圍 | Diode,BJT,MOSFET,IGBT,SCR |
陜西天士立科技有限公司/STD2000/二極管參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)可以測(cè)試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR等電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf等
二極管參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)
陜西天士立科技有限公司/STD2000/二極管參數(shù)測(cè)試儀系統(tǒng)
可以測(cè)試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦......等很多電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)和IV曲線(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、內(nèi)阻Rds(on))以及IV特性曲線等
高壓源標(biāo)配1400V(選配2KV),高流源標(biāo)配100A(選配40A,200A,500A)柵極電壓40V,柵極電流100mA分辨率至1.5uV / 1.5pA,精度可至0.1%
陜西天士立科技有限公司
研發(fā)生產(chǎn) 半導(dǎo)體檢測(cè)·電學(xué)檢測(cè)·可靠性檢測(cè)·老化實(shí)驗(yàn) 各類儀器設(shè)備
1.1、產(chǎn)品信息
產(chǎn)品型號(hào):STD2000
產(chǎn)品名稱:二極管參數(shù)測(cè)試儀
1.2、物理規(guī)格
主機(jī)尺寸:深660*寬430*高210(mm)
主機(jī)重量:<35kg
1.3、電氣環(huán)境
主機(jī)功耗:<300W
海拔高度:海拔不超過 4000m;
環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲(chǔ)存)、5℃~50℃(工作);
相對(duì)濕度: 20%RH~75%RH (無凝露,濕球溫度計(jì)溫度 45℃以下);
大氣壓力:86Kpa~106Kpa;
防護(hù)條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等;
電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;
工作時(shí)間:連續(xù);
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研發(fā)生產(chǎn) 半導(dǎo)體檢測(cè)·電學(xué)檢測(cè)·可靠性檢測(cè)·老化實(shí)驗(yàn) 各類儀器設(shè)備
1、測(cè)試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計(jì)階段的初始測(cè)試,主要功能為曲線追蹤儀)
2、失效分析(對(duì)失效器件進(jìn)行測(cè)試分析,查找失效機(jī)理。以便于對(duì)電子整機(jī)的整體設(shè)計(jì)和使用過程提出改善方案)
3、選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測(cè)試,將測(cè)試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))
4、來料檢驗(yàn)(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
5、量產(chǎn)測(cè)試(可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備,實(shí)現(xiàn)規(guī)?;?、自動(dòng)化測(cè)試)
6、替代進(jìn)口(STD2000二極管參數(shù)測(cè)試儀可替代同級(jí)別進(jìn)口產(chǎn)品)
1、程控高壓源10~1400V,提供2000V選配;
2、程控高流源1uA~100A,提供40A,200A,500A選配;
3、驅(qū)動(dòng)電壓10mV~40V
4、控制極電流10uA~100mA;
5、16位ADC,1M/S采樣速率;
6、自動(dòng)識(shí)別器件極性 NPN/PNP
7、曲線追蹤儀,四線開爾文連接保證加載測(cè)量的準(zhǔn)確
8、通過 RS232 接口連接校準(zhǔn)數(shù)字表,對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行校驗(yàn)
9、不同的封裝形式提供對(duì)應(yīng)的夾具和適配器(如TO220、SOP-8、DIP、SOT-23等等)
10、二極管參數(shù)測(cè)試儀能測(cè)很多電子元器件(如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等);
11、二極管參數(shù)測(cè)試儀能實(shí)現(xiàn)曲線追蹤儀(如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、導(dǎo)通內(nèi)阻Rds(on) )
12、結(jié)電容參數(shù)也可以測(cè)試,諸如Cka,Ciss,Crss,Coss;
13、脈沖電流自動(dòng)加熱功能,方便高溫測(cè)試,無需外掛升溫裝置;
14、Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin),連接分選機(jī)效率1h/9000個(gè);
15、二極管參數(shù)測(cè)試儀在各大電子廠的IQC、實(shí)驗(yàn)室有著廣泛的應(yīng)用;
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研發(fā)生產(chǎn) 半導(dǎo)體檢測(cè)·電學(xué)檢測(cè)·可靠性檢測(cè)·老化實(shí)驗(yàn) 各類儀器設(shè)備
STD2000二極管參數(shù)測(cè)試儀是由我公司技術(shù)團(tuán)隊(duì)結(jié)合二極管參數(shù)測(cè)試儀的多年經(jīng)驗(yàn),以及眾多國內(nèi)外測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品的熟悉了解后,自主開發(fā)設(shè)計(jì)的全新一代“二極管參數(shù)測(cè)試儀"。軟件及硬件均由團(tuán)隊(duì)自主完成。這就決定了這款產(chǎn)品的功能性和可靠性能夠得到持續(xù)完善和不斷的提升。
二極管參數(shù)測(cè)試儀脈沖信號(hào)源輸出方面,高壓源標(biāo)配1400V(選配2KV),高流源標(biāo)配100A(選配40A,200A,500A)柵極電壓40V,柵極電流100mA,分辨率至1uV / 1.5pA,精度可至0.1%。程控軟件基于Lab VIEW平臺(tái)編寫,填充式菜單界面。采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測(cè)試插座,自動(dòng)補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測(cè)試電纜長(zhǎng)度引起的任何壓降,保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。產(chǎn)品可測(cè)試 Si, SiC, GaN 材料的 IGBTs, DIODEs, MOSFETs, BJTs, SCRs 等7大類26分類的電子元器件。涵蓋電子產(chǎn)品中幾乎所有的常見器件。無論電壓電流源還是功能配置都有著擴(kuò)展性。
產(chǎn)品為桌面放置的臺(tái)式機(jī)結(jié)構(gòu),由測(cè)試主機(jī)和程控電腦兩大部分組成。外掛各類夾具和適配器,還能夠通過Prober 接口、Handler 接口可選(16Bin)連接分選機(jī)和機(jī)械手建立工作站,實(shí)現(xiàn)快速批量化測(cè)試。通過軟件設(shè)置可依照被測(cè)器件的參數(shù)等級(jí)進(jìn)行自動(dòng)分類存放。能夠應(yīng)對(duì)“來料檢驗(yàn)"“失效分析"“選型配對(duì)"“量產(chǎn)測(cè)試"等不同場(chǎng)景。
二極管參數(shù)測(cè)試儀產(chǎn)品的可靠性和測(cè)試數(shù)據(jù)的重復(fù)性以及測(cè)試效率都有著非常優(yōu)秀的表現(xiàn)。創(chuàng)新的“點(diǎn)控式夾具"讓操作人員在夾具上實(shí)現(xiàn)一點(diǎn)即測(cè)。操作更簡(jiǎn)單效率更高。測(cè)試數(shù)據(jù)可保存為EXCEL文本,方便快捷的完成曲線追蹤儀。
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STD2000二極管參數(shù)測(cè)試儀的功能配置如下
STD2000二極管參數(shù)測(cè)試儀的適配器有如下
STD2000二極管參數(shù)測(cè)試儀的測(cè)試種類和參數(shù)如下
(1)二極管類:二極管 Diode
Kelvin,Vrrm,Irrm,Vf,△Vf,△Vrrm,Cka,Tr(選配);
(2)二極管類:穩(wěn)壓二極管 ZD(Zener Diode)
Kelvin,Vz,lr,Vf,△Vf,△Vz,Roz,lzm,Cka;
(3)二極管類:穩(wěn)壓二極管 ZD(Zener Diode)
Kelvin、Vz、lr、Vf、△Vf、△Vz、Roz、lzm、Cka;
(4)二極管類:三端肖特基二極管SBD(SchottkyBarrierDiode)
Kelvin 、Type_ident 、Pin_test 、Vrrm、Irrm、Vf、△Vf、V_Vrrm、I_Irrm、△Vrrm、Cka、Tr(選配);
(5)二極管類:瞬態(tài)二極管 TVS
Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka ;
(6)二極管類:整流橋堆
Kelvin 、Vrrm、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm 、Cka;
(7)二極管類:三相整流橋堆
Kelvin 、Vrrm 、Irrm、Ir_ac、Vf、△Vf、△Vrrm、Cka;
(8)三極管類:三極管
Kelvin 、Type_ident、Pin_chk 、V(br)cbo 、V(br)ceo 、V(br)ebo 、Icbo、lceo、Iebo、Hfe、Vce(sat)、Vbe(sat)、△Vsat、△Bvceo 、△Bvcbo 、Vbe、lcm、Vsd 、Ccbo 、Cces、Heater、Tr (選配)、Ts(選配)、Value_process;
(9) 三極管類:雙向可控硅
Kelvin、Type_ident、Qs_chk、Pin_test、Igt、Vgt、Vtm、Vdrm、Vrrm、Vdrm rrm、Irrm、 Idrm、Irrm_drm、Ih、IL、C_vtm、△Vdrm、△Vrrm、△Vtm;
(10)三極管類:?jiǎn)蜗蚩煽毓?/span>
Kelvin、 Type_ident、 Qs_chk、 Pin test、 lgt、 Vgt、 Vtm、 Vdrm Vrrm、 IH、IL、△Vdrm△Vrrm、Vtm;
(11)三極管類:MOSFET
Kelvin 、Type_ident、Pin_test、VGS(th) 、V(BR)Dss 、Rds(on) 、Bvds_rz、△Bvds、Gfs、Igss、ldss 、Idss zero 、Vds(on)、 Vsd、Ciss、Coss、Crss、Bvgs 、ld_lim 、Heater、Value_proces、△Rds(on) ;
(12)三極管類:雙MOSFET
Kelvin、 Pin_chk、Ic_fx_chk、 Type_ident、 Vgs1(th)、 VGs2(th)、 VBR)Dss1、 VBR)Dss2、 Rds1(on)、 Rds2(on)、 Bvds1 rz、 Bvds2_rz、 Gfs1、Gfs2、lgss1、lgss2、Idss1、Idss2、Vsd1、Vsd2、Ciss、Coss、Crss;
(13)三極管類:JFET
Kelvin、VGS(off )、V(BR)Dss、Rds(on)、Bvds_rz、Gfs、lgss、 Idss(off)、 Idss(on)、 vds(on)、 Vsd、Ciss、Crss、Coss;
(14)三極管類:IGBT
Kelvin、VGE(th)、V(BR)CES、Vce(on)、Gfe、lges、 lces、Vf、Ciss、Coss、Crss;
(15)三極管類:三端開關(guān)功率驅(qū)動(dòng)器
Kelvin、Vbb(AZ)、 Von(CL)、 Rson、Ibb(off)、Il(lim)、Coss、Fun_pin_volt;
(16)三極管類:七端半橋驅(qū)動(dòng)器
Kelvin、lvs(off)、lvs(on)、Rson_h、Rson_l、lin、Iinh、ls_Volt、Sr_volt;
(17)三極管類:高邊功率開關(guān)
Kelvin、Vbb(AZ)、Von(CL)、Rson、Ibb(off)、ll(Iim)、Coss、Fun_pin_volt;
(18)保護(hù)類:壓敏電阻
Kelvin、Vrrm、 Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、 △Vr ;
(19)保護(hù)類:?jiǎn)谓M電壓保護(hù)器
Kelvin 、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;
(20)保護(hù)類:雙組電壓保護(hù)器
Kelvin、Vrrm、Vdrm、Irrm、Idrm、Cka、△Vr;
(21)穩(wěn)壓集成類:三端穩(wěn)壓器
Kelvin 、Type_ident 、Treg_ix_chk 、Vout 、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△IB、VD、ISC、Max_lo、Ro、Ext _Sw、Ic_fx_chk;
(22)穩(wěn)壓集成類:基準(zhǔn)IC(TL431)
Kelvin、Vref、△Vref、lref、Imin、loff、Zka、Vka;
(23)穩(wěn)壓集成類:四端穩(wěn)壓
Kelvin、Type_ident、Treg_ix_chk、Vout、Reg_Line、Reg_Load、IB、IB_I、Roz、△lB、VD、Isc、Max_lo、Ro、Ext_Sw、Ic_fx_chk;
(24)穩(wěn)壓集成類:開關(guān)穩(wěn)壓集成器
選配;
(25)繼電器類:4腳單刀單組、5腳單刀雙組、8腳雙組雙刀、8腳雙組四刀、固態(tài)繼電器
Kelvin、Pin_chk、Dip6_type_ident、Vf、Ir、Vl、Il、Ift、Ron、Ton(選配)、Toff(選配);
(26)光耦類:4腳光耦、6腳光耦、8腳光耦、16腳光耦
Kelvin、Pin_chk、Vf、Ir、Bvceo、Bveco、Iceo、Ctr、Vce(sat)、Tr、Tf;
(27)傳感監(jiān)測(cè)類:
電流傳感器(ACS712XX系列、CSNR_15XX系列)(選配);
霍爾器件(MT44XX系列、A12XX系列)(選配);
電壓監(jiān)控器(選配);
電壓復(fù)位IC(選配);
曲線追蹤儀
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研發(fā)生產(chǎn) 半導(dǎo)體檢測(cè)·電學(xué)檢測(cè)·可靠性檢測(cè)·老化實(shí)驗(yàn) 各類儀器設(shè)備
STD2000二極管參數(shù)測(cè)試儀的性能指標(biāo)如下
(1)加壓(FV)
量程±40V分辨率625uV精度±0.1% 設(shè)定值±3mV
量程±20V分辨率320uV精度±0.1% 設(shè)定值±3mV
量程±10V分辨率160uV精度±0.1% 設(shè)定值±3mV
量程±5V分辨率80uV精度±0.1% 設(shè)定值±2mV
量程±2V分辨率32uV精度±0.1% 設(shè)定值±2mV
(2)加流(FI)
量程±40A 分辨率625uA精度±0.5% 設(shè)定值±30mA
量程±4A 分辨率62.5uA精度±0.2% 設(shè)定值±2mA
量程±400mA分辨率6.25uA精度±0.1% 設(shè)定值±500uA
量程±40mA分辨率625nA精度±0.1% 設(shè)定值±50uA
量程±4mA分辨率62.5nA精度±0.1% 設(shè)定值±5uA
量程±400uA分辨率6.25nA精度±0.1% 設(shè)定值±500nA
量程±40uA分辨率625pA精度±0.1% 設(shè)定值±50nA
量程±4uA分辨率62.5pA精度±0.1% 設(shè)定值±5nA
說明:電流大于1.5A自動(dòng)轉(zhuǎn)為脈沖方式輸出,脈寬范圍:300us-1000us可調(diào)
(3)電流測(cè)量(MI)
量程±40A分辨率1.22mA精度±1% 讀數(shù)值±20mA
量程±4A分辨率122uA精度±0.5% 讀數(shù)值±2mA
量程±400mA分辨率12.2uA精度±0.5% 讀數(shù)值±200uA
量程±40mA分辨率1.22uA精度±0.5% 讀數(shù)值±20uA
量程±4mA分辨率122nA精度±0.5% 讀數(shù)值±2uA
量程±400uA分辨率12.2nA精度±0.5% 讀數(shù)值±200nA
量程±40uA分辨率1.22nA精度±1% 讀數(shù)值±20nA
(4)電壓測(cè)量(MV)
量程±40V分辨率1.22mV精度±1% 讀數(shù)值±20mV
量程±20V分辨率122uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±2mV
量程±10V分辨率12.2uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±200uV
量程±5V分辨率1.22uV 精度±0.5% 讀數(shù)值±20uV
16位ADC,1M/S采樣速率
(1)電壓測(cè)量(MV)
量程±2000V分辨率30.5mV精度±0.5%讀數(shù)值±200mV
量程±1000V分辨率15.3mV精度±0.2%讀數(shù)值±20mV
量程±100V分辨率1.53mV精度±0.1%讀數(shù)值±10mV
量程±10V分辨率153uV精度±0.1%讀數(shù)值±5mV
量程±1V分辨率15.3uV精度±0.1%讀數(shù)值±2mV
量程±0.1V分辨率1.53uV精度±0.2%讀數(shù)值±2mV
(2)漏電流測(cè)量(MI)
量程±100mA分辨率1.53uA精度±0.2%讀數(shù)值±100uA
量程±10mA分辨率153nA精度±0.1%讀數(shù)值±3uA
量程±1mA分辨率15.3nA精度±0.1%讀數(shù)值±300nA
量程±100uA分辨率1.53nA精度±0.1%讀數(shù)值±100nA
量程±10uA分辨率153pA精度±0.1%讀數(shù)值±20nA
量程±1uA 分辨率15.3pA精度±0.5%讀數(shù)值±5nA
量程±100nA分辨率1.53pA精度±0.5%讀數(shù)值±0.5nA
(3)電容容量測(cè)量(MC)
量程6nF分辨率10PF精度±5%讀數(shù)值±50PF
量程60nF分辨率100PF精度±5%讀數(shù)值±100PF
(1)加壓(FV)
量程2000V/10mA分辨率30.5mV精度±0.5%設(shè)定值±500mV
量程200V/10mA分辨率30.5mV精度±0.2%設(shè)定值±50mV
量程40V/50mA分辨率30.5mV精度±0.1%設(shè)定值±5mV
(2)加流(FI):
量程10mA分辨率3.81uA 精度±0.5%設(shè)定值±10uA
量程2mA分辨率381nA精度±0.5%設(shè)定值±2uA
量程200uA分辨率38.1nA精度±0.5%設(shè)定值±200nA
量程20uA分辨率3.81nA精度±0.5%設(shè)定值±20nA
量程2uA分辨率381pA精度±0.5%設(shè)定值±20nA
STD2000二極管參數(shù)測(cè)試儀能測(cè)很多電子元器件(如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等)產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用在院所高校、封測(cè)廠、電子廠.....
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主營產(chǎn)品:半導(dǎo)體分立器件靜態(tài)動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),IGBT靜態(tài)動(dòng)態(tài)參數(shù)特性測(cè)試設(shè)備
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