清析技術研究院可提供硅片相關的質(zhì)量檢測、厚度檢測、隱裂檢測、工業(yè)問題診斷、表面有機物檢測、電阻率檢測等檢測服務,可出具備CMA/CNAS資質(zhì)的檢測報告,是專業(yè)的第三方材料檢測機構。關于硅片檢測的部分內(nèi)容介紹如下:
硅片檢測周期是多久?
到樣后7-10個工作日可出具檢測報告(可加急),根據(jù)樣品及其檢測項目/方法會有所變動,具體需咨詢工程師。
硅片檢測項目有哪些?
質(zhì)量檢測、厚度檢測、隱裂檢測、工業(yè)問題診斷、表面有機物檢測、電阻率檢測、壓阻系數(shù)、表面粗糙度檢測、反射率檢測、翹曲度檢測、微量元素檢測、碳氧含量檢測、結晶度檢測等。
硅片檢測流程是怎樣?
1、聯(lián)系/咨詢工程師,詳細溝通了解檢測需求;
2、工程師根據(jù)檢測項目及檢測需求進行報價;
3、雙方確定簽訂合同及保密協(xié)議;
4、寄樣/取樣,開始檢測;
5、完成檢測,出具檢測報告,進行后期服務;
硅片檢測范圍有哪些?
單晶硅片、太陽能硅片、多晶硅片、半導體硅片等。
硅片檢測標準是什么?
1、GB/T 6617-2009 硅片電阻率測定 擴展電阻探針法
2、GB/T 39145-2020 硅片表面金屬元素含量的測定 電感耦合等離子體質(zhì)譜法
3、GB/T 29055-2019 太陽能電池用多晶硅片
4、GB/T 37051-2018 太陽能級多晶硅錠、硅片晶體缺陷密度測定方法
5、GB/T 34479-2017 硅片字母數(shù)字標志規(guī)范
6、GB/T 32280-2015 硅片翹曲度測試 自動非接觸掃描法
7、GB/T 30860-2014 太陽能電池用硅片表面粗糙度及切割線痕測試方法
8、GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及總厚度變化測試 自動非接觸掃描法
9、GB/T 30869-2014 太陽能電池用硅片厚度及總厚度變化測試方法
10、GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸測試方法
清析研究院服務范圍和優(yōu)勢有哪些?
1、為公司企業(yè)、高等院校、科研單位、事業(yè)單位、醫(yī)院、律師事務所以及個人客戶等提供專業(yè)技術服務。
2、具備專業(yè)的CMA/CNAS資質(zhì)認證,檢測資質(zhì)齊全,為客戶提供專業(yè)的咨詢與服務。
3、實驗室儀器設備種類齊全,保證測試數(shù)據(jù)準確可靠;
4、擁有強大的檢測專家團隊,全國各地多家分支機構;
5、在線一對一服務流程,根據(jù)客戶需求制定特色檢測方案和解決辦法;
如有相關檢測需求歡迎通過在線咨詢,微信咨詢,熱線,預約檢測留言等方式進行咨詢,實驗室工程師將會一對一為您詳細解答。