當(dāng)前位置：QUANTUM量子科學(xué)儀器貿(mào)易（北京）有限公司>>材料物性測(cè)試>>熱電測(cè)量>>聚合物薄膜厚度方向熱電性能評(píng)價(jià)系統(tǒng)

聚合物薄膜厚度方向熱電性能評(píng)價(jià)系統(tǒng)

返回列表頁(yè)

參考價(jià)

面議

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)ZEM-d

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地北京市

在線詢價(jià) 收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時(shí)間：2023-11-15 12:47:13瀏覽次數(shù)：194次

聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  材料物性測(cè)試

液態(tài)金屬靶X射線源

X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀

磁性測(cè)量

熱電測(cè)量

全部產(chǎn)品列表

暫無(wú)信息

QUANTUM量子科學(xué)儀器貿(mào)易（北京）有限公司

經(jīng)營(yíng)模式：其他

商鋪產(chǎn)品：39條

所在地區(qū)：

詢價(jià) 給他留言

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

聚合物薄膜厚度方向熱電性能評(píng)價(jià)系統(tǒng)-ZEM-d主要測(cè)量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測(cè)量的樣品薄為10μm。

詳細(xì)介紹

聚合物薄膜厚度方向熱電性能評(píng)價(jià)系統(tǒng)-ZEM-d

日本ADVANCE RIKO公司塞貝克系數(shù)與電阻測(cè)量系統(tǒng)ZEM系列銷售量超過(guò)300臺(tái)，廣獲科研及工業(yè)用戶的贊譽(yù)，成為熱電材料領(lǐng)域應(yīng)用廣泛的測(cè)試設(shè)備。2019年，在此前的成功基礎(chǔ)上，ADVANCE RIKO公司推出了專門(mén)用于評(píng)價(jià)聚合物厚度方向上熱電性能的全新設(shè)備ZEM-d。

與之前ZEM系列產(chǎn)品（ZEM-3/ZEM-5）不同，新型號(hào)ZEM-d主要測(cè)量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測(cè)量的樣品薄為10μm。此外，ZEM-d與采用激光閃光法測(cè)量薄膜的熱擴(kuò)散率/導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)量方向一致，其測(cè)量結(jié)果可廣泛應(yīng)用于薄膜熱電材料的性能評(píng)價(jià)。

ZEM-d測(cè)量原理