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上海明古嘉電子科技有限公司
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更新時間：2024-11-06 10:07:57瀏覽次數(shù)：37次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線Park NX12 多功能原子力顯微鏡平臺，滿足納米級測量的需求 原子力顯微鏡（AFM)有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。 納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導
通過倒置光學顯微鏡樣品平臺，Park NX12將Park原子力顯微鏡的多功能性和準確性相結(jié)合。這使得使用者更容易的使用納米管技術(shù)去研究透明，不透明，或軟或硬的樣品。
電池，燃料電池，傳感器和腐蝕等電化學研究是個快速增長的領(lǐng)域，然后許多原子力顯微鏡不能直接滿足其特殊的需求。Park NX12的人性化設(shè)計，為快速操作提供便利，從而達到化學研究人員要求的功能性和靈活性。這主要包括：
Park NX12重新構(gòu)建，以適應(yīng)多用戶設(shè)備需求。其他原子力顯微鏡解決方案缺乏必要的多功能性，難以滿足該設(shè)備中用戶的多重需求，很難合理控制設(shè)備成本。然而，Park NX12旨在能夠容納標準環(huán)境原子力顯微鏡成像，液體掃描探針顯微鏡，光學和納米光學成像，使其成為最靈活的原子力顯微鏡之一。
Park NX12是專門針對專業(yè)電化學研究人員需求量身定制的原子力顯微鏡平臺。
它基于化學和電化學性質(zhì)，氣體和液體中介質(zhì)的特性，為掃描探針顯微鏡提供了一個通用的解決方案，可用于廣泛的不透明和透明材料。
Park NX12基于其廣泛的可視光投置到掃描探針的掃描探針顯微鏡技術(shù)的納米管，易用性強。
Park NX12準確度，是多用戶設(shè)備和職業(yè)研究人員的理想平臺。
Park NX12功能廣泛，包括液體中的PinPoint ™和納米力學，倒置光學顯微鏡定位透明樣品，離子電導顯微鏡超軟樣品成像，以及改善透明樣品光學性能的可視性。
Park NX12提供了一種在液態(tài)和空氣中的納米力學表征的完整套餐，使其成為廣泛應(yīng)用中的理想選擇.
NX12模塊化設(shè)計，安裝簡單，兼容性強，可以滿足您的多種實驗需求。
早期職業(yè)研究人員通常沒有足夠的預算購買價格高昂的原子力顯微鏡。Park NX12不僅是經(jīng)濟實惠的入門之選，同時還提供了可隨著職業(yè)發(fā)展而不斷壯大的模塊化平臺。它不同于其他價格相近的原子力顯微鏡，Park NX12配有的研究級精度和功能，可為在空氣和液體中的透明和不透明材料提供其表面形態(tài)納米級分辨率。這使得新的化學，材料科學或生物化學實驗室的投資回報成為可能。
Park NX12配備了我們的SmartScan™操作系統(tǒng)，使其成為市場上最易使用的原子力顯微鏡之一。其界面直觀給力，即使是未經(jīng)培訓的用戶也可以無需監(jiān)控，快速掃描樣品。這使得高級研究人員能夠?qū)⑺麄兊慕?jīng)驗專注在解決更大的問題和開發(fā)更好的方案。
共享實驗室的用戶通常背景各異，經(jīng)驗水平各異。NX12為每個用戶提供簡單的點擊界面和自動化SmartScan™模式。
系統(tǒng)出現(xiàn)一個小窗口，通過動畫演示指導您如何儀器設(shè)置和放置待成像的樣品。一般情況下，這一步僅需幾分鐘。
系統(tǒng)自動對懸臂進行頻率掃描，讓 Z 軸掃描儀向樣品靠近，并自動對焦樣品，使用戶看到成像目標區(qū)域后進行操作，移動到目標區(qū)域。
系統(tǒng)設(shè)置所有實現(xiàn)設(shè)置所必要的參數(shù)，然后啟用懸臂，開始掃描樣品。持續(xù)掃描，直至獲得完整圖像。
懸臂將從樣本上移開，準備進行下一次樣品成像操作。
集成的原子力顯微鏡光學器件伴隨針尖減少監(jiān)管的需要。
Park的創(chuàng)新SmartScan™自動化功能允許用戶點擊按鈕進行掃描并創(chuàng)建自動化腳本。NX12同樣為離子電導顯微鏡提供SmartScan™。
NX12的倒置光學顯微鏡使用戶能夠輕松使用納米管技術(shù)測量透明樣品。
NX12的PinPoint™模式使用戶通過高分辨率原子力顯微鏡針尖來操作掃描電化學顯微鏡，并且具有的精確度。
允許掃描隧道顯微鏡，原子力顯微鏡和離子電導顯微鏡之間的簡單轉(zhuǎn)換。
Park NX12能在測量之前和測量過程中控制濕度和溫度。
該系統(tǒng)在測量期間可以從各個角度，頂部，側(cè)面以及底部光纖接入探針。這種可以大范圍投置燈光的方式與設(shè)備模塊設(shè)計相結(jié)合，還可添加光學或納米學附件。
Park NX12為液體和空氣中的納米機械表征提供完整封裝，使其成為廣泛應(yīng)用的理想選擇。
AFM 掃描頭
柔性引導高推動力掃描器
掃描范圍：15μm(可選 30μm)
SICM 掃描頭
多層壓電疊層驅(qū)動器驅(qū)動的柔性引導結(jié)構(gòu)
掃描范圍：15μm(可選 30μm)
閉環(huán)控制的柔性引導XY掃描器
掃描范圍：100μm ×100μm
XY 驅(qū)動臺行程范圍: 50 mm x 50 mm Z 驅(qū)動臺行程范圍: 25 mm 聚焦驅(qū)動臺行程范圍: 15 mm
樣品表面和懸臂的直觀同軸影像
視野: 840 μm × 630 μm (10倍物鏡)
攝像頭: 5 M Pixel (默認), 1M Pixel (可選)
物鏡
10倍 (NA. 0.23) 超長工作距離鏡頭
20倍 (NA. 0.35) 高分辨率，長工作距離鏡頭
信號處理
ADC: 18 通道 24-bit ADC 的 X, Y 和 Z 掃描器位置傳感器 DAC: 17 通道 20-bit DAC的 X, Y 和 Z 掃描器定位
集成功能
3通道數(shù)字鎖相放大器 彈性系數(shù)校準(熱方法) 數(shù)據(jù)Q 控制
標準成像: 真正的非接觸模式, 接觸模式, 側(cè)向摩擦力顯微術(shù)(LFM), 相位成像模式, 輕敲模式, Pinpoint™模式：Pinpoint成像
化學性能: 掃描電化學池顯微鏡(SECCM), 掃描電化學顯微鏡(SECM), 電化學原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學掃描隧道顯微鏡(EC-STM), 功能化探針的化學力顯微鏡
介電／壓電性能: 靜電力顯微鏡, 動態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC), 壓電力顯微鏡 (PFM), 高電壓PFM
力測量: 力－距離(F-D)光譜, 力譜成像
磁性能: 磁力顯微鏡(MFM), 可調(diào)外加磁場MFM
熱性能: 掃描熱顯微鏡(SThM)
電性能: 導電AFM(CP-AFM), Pinpoint™ 導電AFM, I-V譜線, 掃描開爾文探針顯微鏡(SKPM/KPM), 高電壓SKPM, QuickStep™掃描電容顯微鏡(SCM), 掃描電阻顯微鏡(SSRM), 掃描隧道顯微鏡(STM), 掃描隧道光譜(STS), 光電流測繪(PCM), Current-distance(I/d) Spectroscopy (with SICM)
機械性能: Pinpoint™納米力學模式, 力調(diào)制顯微鏡(FMM), 納米壓痕, 納米刻蝕, 高電壓納米刻蝕, 納米操縱
Park SmartScan™
AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集的專用軟件自動模式的快速設(shè)置和簡易成像手動模式的高級使用和更精密的掃描控制
XEI
AFM數(shù)據(jù)分析軟件獨立設(shè)計-可獨立安裝和分析數(shù)據(jù)能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制
控溫臺
手套箱*
磁場發(fā)生器
液態(tài)選項
隔音罩
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