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奧林巴斯CIX100技術(shù)清潔度檢測(cè)系統(tǒng)

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產(chǎn)品型號(hào)

品       牌

廠商性質(zhì)其他

所  在  地深圳市

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更新時(shí)間:2024-11-20 11:49:48瀏覽次數(shù):31次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

奧林巴斯CIX100檢測(cè)系統(tǒng)是專為需要保持高要求清潔度標(biāo)準(zhǔn)的生產(chǎn)制造商而研發(fā)的整體解決方案。依照企業(yè)和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)對(duì)技術(shù)清潔度檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行快速采集、處理和存檔。該系統(tǒng)方便直觀的軟件可引導(dǎo)用戶完成每一步流程,即使經(jīng)驗(yàn)不足的操作員也能夠快速、輕松地采集清潔度數(shù)據(jù)。

詳細(xì)介紹

奧林巴斯CIX100技術(shù)清潔度檢測(cè)系統(tǒng):讓您的技術(shù)清潔度檢測(cè)更簡(jiǎn)便

組件與零部件的清潔對(duì)于生產(chǎn)工藝十分重要。對(duì)于開(kāi)發(fā)、制造、批量生產(chǎn)以及成品質(zhì)量控制的所有流程,滿足對(duì)常見(jiàn)微觀尺寸污染物和異物顆粒的計(jì)數(shù)、分析和分類的高標(biāo)準(zhǔn)要求是非常重要的。由于顆粒污染物對(duì)于零部件的使用壽命存在直接影響,國(guó)際和國(guó)家指令對(duì)于確定重要機(jī)械部件顆粒物污染的方法和存檔要求均有表述。此前,使用殘留顆粒物的質(zhì)量來(lái)描述殘留物特征。當(dāng)前使用的標(biāo)準(zhǔn)對(duì)諸如顆粒物數(shù)量、顆粒物尺寸分布以及顆粒物特征等污染屬性提出了更詳細(xì)的信息要求。  
奧林巴斯CIX100清潔度檢測(cè)系統(tǒng)專為滿足現(xiàn)代工業(yè)及國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的清潔度要求而特別設(shè)計(jì)。

 

組件及零部件的技術(shù)清潔度非常重要,特別是在汽車和航空航天行業(yè)。

 

清潔度檢測(cè)的標(biāo)準(zhǔn)步驟:準(zhǔn)備和檢測(cè)  
(01:提取, 02:過(guò)濾, 03:稱重, 04:檢驗(yàn), 05:復(fù)審, 06:結(jié)果)

 

簡(jiǎn)單,可靠 

硬件與軟件無(wú)縫集成的耐用型高效率系統(tǒng)能夠產(chǎn)出可靠、精確的數(shù)據(jù)。

l實(shí)現(xiàn)真正整體解決方案功能性的簡(jiǎn)單配置

l通過(guò)穩(wěn)定不變的系統(tǒng)配置實(shí)現(xiàn)精確的可重復(fù)性和*佳安全性

l**的光學(xué)性能和可再現(xiàn)成像條件

l通過(guò)可再定位和集成校準(zhǔn)裝置確保成熟可靠的耐久性

l確保高性能的全系統(tǒng)集成

 

實(shí)現(xiàn)*高效率的直觀引導(dǎo) 

使用方便的專用工作流可大大減少用戶操作并確保數(shù)據(jù)可靠性-無(wú)關(guān)操作員的經(jīng)驗(yàn)水平。

l分布操作指導(dǎo)可提高生產(chǎn)率,縮短檢測(cè)和處理時(shí)間

l用戶權(quán)限管理可對(duì)功能作出限制,通過(guò)限制功能避免操作員處理失誤

l觸摸屏支持操作員高效操作處理

l一鍵報(bào)告功能可直接進(jìn)行數(shù)據(jù)存檔

l通過(guò)檢測(cè)結(jié)果自動(dòng)存儲(chǔ)和進(jìn)行數(shù)據(jù)分享管理

 

快速實(shí)時(shí)分析 

創(chuàng)新的一體式掃描解決方案讓完成掃描的速度是傳統(tǒng)調(diào)節(jié)檢偏鏡式檢測(cè)系統(tǒng)的兩倍。實(shí)時(shí)顯示顆粒物的計(jì)數(shù)和篩選過(guò)程,并且配有便于修改檢測(cè)數(shù)據(jù)的**易用型工具。

l縮略圖像有助于評(píng)估過(guò)濾器覆蓋情況、顆粒物類型情況或者*劣顆粒物

l自動(dòng)實(shí)時(shí)處理和分類2.5微米至42毫米污染物顆粒

l通過(guò)**的一體式掃描技術(shù)一次掃描完成反光和非放光物體的探測(cè)提高生產(chǎn)率

l分析和檢測(cè)結(jié)果實(shí)時(shí)顯示,實(shí)現(xiàn)*短反應(yīng)時(shí)間

l支持兼容國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的檢測(cè)結(jié)果

 

高效率的數(shù)據(jù)評(píng)估 

功能**且使用方便的工具支持檢測(cè)數(shù)據(jù)修改。支持所有國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)確保*高靈活性。以節(jié)省時(shí)間的方式清晰展示所有相關(guān)檢測(cè)結(jié)果。 

l圖像和數(shù)據(jù)布局清晰鮮明,提高數(shù)據(jù)審核效率

l各種顆粒物視圖的可視化,便于快速識(shí)別

l顆粒物位置與縮略圖與其尺寸圖像鏈接的可靠保證

l便于對(duì)檢測(cè)數(shù)據(jù)進(jìn)行重新分類、審核修改以及重新計(jì)算

l通過(guò)整體清潔度代碼、顆粒物和分類表的實(shí)時(shí)顯示縮短反應(yīng)時(shí)間

l通過(guò)在一個(gè)視圖內(nèi)顯示全部檢測(cè)數(shù)據(jù)集實(shí)現(xiàn)全面控制

 

報(bào)告創(chuàng)建 

一鍵報(bào)告功能可滿足國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求及原則。

l基于兼容模板實(shí)現(xiàn)全面直觀的專業(yè)文檔

l通過(guò)客戶可修改的模板實(shí)現(xiàn)的智能可變性

l支持各種輸出格式,實(shí)現(xiàn)*高靈活性

l通過(guò)直接文件分享選項(xiàng)功能進(jìn)行信息交流提高效率且節(jié)省時(shí)間

l便于檢測(cè)結(jié)果長(zhǎng)期評(píng)判的豐富數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方案

 


硬件

顯微鏡

OLYMPUS CIX100

電動(dòng)對(duì)焦

 3軸操縱桿控制的同軸自動(dòng)細(xì)調(diào)焦

 對(duì)焦行程 25毫米

 微調(diào)行程 100微米/周

 載物臺(tái)托架*大高度:40毫米

 對(duì)焦速度 200微米/秒

 可啟用軟件自動(dòng)對(duì)焦

 可定制多點(diǎn)聚焦圖

照明器

內(nèi)置LED照明

可同時(shí)實(shí)現(xiàn)反光和非反光顆粒物探測(cè)的照明機(jī)制

光強(qiáng)度由工廠預(yù)設(shè)

成像設(shè)備

彩色CMOS USB 3.0相機(jī)

樣品高度

?樣品受限于安裝在所附濾膜托架上的過(guò)濾膜(直徑47毫米)

物鏡轉(zhuǎn)換器

電動(dòng)型

電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器

6孔電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器,已經(jīng)安裝3個(gè)UIS2物鏡

PLAPON 1.25X,用于預(yù)覽

MPLFLN 5X,用于觀察大于10微米的顆粒物

MPLFLN 10X,用于觀察大于2.5微米的顆粒物

     選配:選配MPLFLN 20X,用于高度測(cè)量。

軟件控制

圖像放大倍率和像素與尺寸之間的關(guān)系均可隨時(shí)掌握。

載物臺(tái)

電動(dòng)載物臺(tái)X,Y

電動(dòng)載物臺(tái)X,Y

步進(jìn)電機(jī)控制運(yùn)動(dòng)

*大范圍:130 x 79毫米

*大速度 240毫米/秒(4毫米滾珠螺距)

可重復(fù)性 < 1微米

分辨率 0.01微米

使用3軸操縱桿控制

軟件控制

掃描速度與所使用的倍率有關(guān),10X時(shí)保證掃描速度少于10分鐘

載物臺(tái)對(duì)齊由工廠在裝配時(shí)完成

樣品托架

樣品托架

樣品托架專為在安裝過(guò)程中避免發(fā)生意外碰撞轉(zhuǎn)動(dòng)而特別設(shè)計(jì)

過(guò)濾膜通過(guò)樣品托架進(jìn)行機(jī)械式展平

固定上蓋時(shí)無(wú)需使用工具

樣品托架始終使用載物臺(tái)上的插槽1

顆粒物標(biāo)準(zhǔn)片(PSD)

用于驗(yàn)證系統(tǒng)測(cè)量的參考樣品

在檢驗(yàn)系統(tǒng)控制CIX相應(yīng)功能的內(nèi)置功能中使用的樣品

顆粒物標(biāo)準(zhǔn)片(PSD)始終使用載物臺(tái)上的插槽2

載物臺(tái)插件

2個(gè)載物臺(tái)插槽

載物臺(tái)插槽專門用于樣品托架和顆粒物標(biāo)準(zhǔn)片(PSD)的正確定位

控制器

工作站

高性能預(yù)安裝式工作站

HP Z440, Windows 10-64位專業(yè)版(英文版)

16 GB RAM, 256 GB SSD和4 TB數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間

2GB視頻適配器

安裝Microsoft Office 2016 (英文版)

具備聯(lián)網(wǎng)功能,英文全鍵盤,1000 dpi光學(xué)鼠標(biāo)

擴(kuò)展插件

電動(dòng)控制器, RS232 串口和USB 3.0

語(yǔ)言選擇

操作系統(tǒng)和Microsoft Office默認(rèn)語(yǔ)言可由用戶更改

觸摸屏

23寸觸摸屏

專為CIX軟件優(yōu)化的1920x1080分辨率

功耗

額定值

AC適配器(2), 控制器和顯微鏡鏡架(需要4個(gè)插頭)

功耗

控制器:700瓦; 顯示器:56瓦; 顯微鏡:5.8 瓦; 控制盒 7.4瓦

合計(jì):769.2瓦

圖紙

尺寸 (長(zhǎng) x 寬 x 高)

約1300毫米 x 800毫米 x 510毫米

重量

44公斤

系統(tǒng)環(huán)境要求

常規(guī)使用

溫度

10 - 35 °C

濕度

30 - 80 %

用于安全

環(huán)境

室內(nèi)使用

溫度

5 - 35 °C

濕度

*大80%(可達(dá)31 °C)(無(wú)冷凝)

溫度高于31 °C時(shí)可工作的濕度值呈線性下降。

34 °C (70 %)至37 °C (60 %)至40 °C (50 %) 

海拔高度

*高2000米

水平度

*大± 2°

電源及電壓穩(wěn)定性

±10 %

污染等級(jí) 

2

總電壓

II

軟件

軟件

CIX-ASW-V1.1

技術(shù)清潔度檢測(cè)的專用工作流軟件

語(yǔ)言

GUI :英語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)、中文簡(jiǎn)體、以及韓語(yǔ)

在線幫助:英語(yǔ)、法語(yǔ)、德語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、日語(yǔ)、中文簡(jiǎn)體、以及韓語(yǔ)

許可證管理

軟件許可證通過(guò)許可證卡激活(安裝時(shí)已經(jīng)激活)

用戶管理

系統(tǒng)可連接到網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行域管理

實(shí)時(shí)圖像

以彩色模式顯示

窗口適應(yīng)方法

實(shí)時(shí)探測(cè) 
- 為提高速度,顆粒物在被捕捉到時(shí)即進(jìn)行檢測(cè)。 
- 如果測(cè)量結(jié)果不佳,用戶可停止該進(jìn)程。

硬件控制

XY電動(dòng)載物臺(tái) 
- 操縱桿操作及軟件控制 
- 所選顆粒物的自動(dòng)或手動(dòng)再定位

電動(dòng)物鏡轉(zhuǎn)換器:僅可使用軟件選擇

電動(dòng)對(duì)焦 
- 操縱桿控制。 
- 軟件自動(dòng)對(duì)焦可用。  
- 使用多點(diǎn)對(duì)焦圖進(jìn)行預(yù)測(cè)性自動(dòng)對(duì)焦。

光線控制:光強(qiáng)度由軟件進(jìn)行自動(dòng)控制

檢查系統(tǒng)

系統(tǒng)驗(yàn)證 
- 系統(tǒng)通過(guò)測(cè)量PSD參數(shù)進(jìn)行驗(yàn)證。 
- 生成OK或NOK的質(zhì)量判定值

技術(shù)清潔度標(biāo)準(zhǔn)

可支持的標(biāo)準(zhǔn):ISO 11218:1993; ISO 14952; ISO 16232-10; ISO 21018; ISO4406:1999; ISO4407:1991; ISO12345:2013; NAS 1638-01; NF E48-651:1986; NF E48-655:1989; SAE AS4059E

全面符合VDA19:2016推薦要求

顆粒物識(shí)別:顆粒物可通過(guò)顆粒物類型進(jìn)行分類(纖維、反光、反光纖維、或其他)

定制標(biāo)準(zhǔn):用戶定義的標(biāo)準(zhǔn)可輕松確定

檢測(cè)配置:系統(tǒng)允許加載、定義、復(fù)制、重命名、刪除和保存檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

顆粒物平鋪視圖

以平鋪視圖顯示檢測(cè)到的顆粒物,提升導(dǎo)航效果

存儲(chǔ)完整薄膜

完整濾膜圖片可被存儲(chǔ),并可使用不同條件進(jìn)行重新處理

顆粒物編輯

在修改過(guò)程中可對(duì)顆粒物進(jìn)行編輯功能包括:  
- 刪除、合并、添加顆粒物。  
- 修改顆粒物類型。

動(dòng)態(tài)報(bào)告

使用Microsoft Word 2016模板可生成全面可定制的專業(yè)分析報(bào)告

選配解決方案CIX-S-HM

高度測(cè)量

選定顆粒物的自動(dòng)或手動(dòng)高度測(cè)量

- 選配軟件解決方案可對(duì)所選顆粒物從上到下進(jìn)行自動(dòng)對(duì)焦。顆粒物高度由此通過(guò)Z坐標(biāo)*大和*小差獲得。 
- 包含一個(gè)附加物鏡(20X MPLFLN)和安裝時(shí)激活使用的許可證卡。

環(huán)境法規(guī)

歐洲

低壓指令 2014/35/EU

EMC指令 2014/30/EU

RoHS指令 2011/65/EU

REACH法規(guī),編號(hào)1907/2006

包裝及包裝廢棄物指令94/62/EC

WEEE指令 2012/19/EU

機(jī)械指令2006/42/EC

美國(guó)

UL 61010-1:2010第3版

FCC 47 CFR第15部分 B子部分

加拿大

CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12)

澳大利亞

1992無(wú)線電通信法案,1997電信法案

節(jié)能條例 AS/NZS 4665-2005

日本

電氣設(shè)備及材料安全法 (PSE)

韓國(guó)

電氣設(shè)備安全控制法案

節(jié)能標(biāo)簽及標(biāo)準(zhǔn)條例

EMC和無(wú)線電通信條例(公告2913-5)

中國(guó)

中國(guó)RoHS

中國(guó)PL法

手冊(cè)條例


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