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D8 ADVANCE X射線衍射儀

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

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聯(lián)系方式:林英查看聯(lián)系方式

更新時間:2021-07-16 10:40:20瀏覽次數(shù):349次

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經(jīng)營模式:經(jīng)銷商

商鋪產(chǎn)品:283條

所在地區(qū):福建福州市

聯(lián)系人:林英 (經(jīng)理)

產(chǎn)品簡介

D8*是一個真正快速變化的藝術(shù)家,可以配置為承擔(dān)單一的分析任務(wù),重點和專用組件,或一個功能齊全的,多用途的解決方案,能夠處理非常多樣化的分析需求和的能力

詳細(xì)介紹

D8*是一個真正快速變化的藝術(shù)家,可以配置為承擔(dān)單一的分析任務(wù),重點和專用組件,或一個功能齊全的,多用途的解決方案,能夠處理非常多樣化的分析需求和的能力。

我們的DaVinci設(shè)計確保了所有這些解決方案--簡單的(重新)配置和可擴展性--能夠準(zhǔn)確地滿足您現(xiàn)在和將來的分析需求。

 

多用途解決方案

D8*生態(tài)系統(tǒng)

全尺寸測角儀級粉末XRD在環(huán)境和非環(huán)境條件下

 

D8前進雙子

在環(huán)境和非環(huán)境條件下,按按鈕切換為非晶態(tài)和多晶薄膜分析的粉末X射線衍射性能。

D8預(yù)支加

在環(huán)境和非環(huán)境條件下,包括外延薄膜在內(nèi)的所有樣品都有的XRD溶液。

 

專用解決方案

D8推進X射線衍射

的xrd 2解決方案可以在2 Theta和Gamma方向收集數(shù)據(jù),以提供關(guān)于晶體樣品性能的額外信息。

D8提前應(yīng)激

依靠專家的XRD解決方案,以測量應(yīng)力和織構(gòu)在機械零件,塊體和薄膜樣品。

結(jié)構(gòu)分析的D8進展

應(yīng)用X射線粉末衍射(XRPD)提取結(jié)構(gòu)信息Rietveld(Topas)分析、擴散或“總"散射(PDF分析)和小角度X射線散射(SAXS)。

 

動態(tài)梁優(yōu)化

動態(tài)光束優(yōu)化(DBO)提供類粉末衍射數(shù)據(jù),通過在計數(shù)統(tǒng)計和峰值-背景比方面設(shè)置新的基準(zhǔn),所有這些都不需要人工儀器重新配置。

D8與DBO的進展

基于粉末衍射數(shù)據(jù)質(zhì)量的動態(tài)光束優(yōu)化設(shè)計

高速能量色散LYNXEE-XE-T探測器*地將快速數(shù)據(jù)采集與的熒光過濾和Kβ輻射結(jié)合在一起。它的自主可變主動探測器窗口和機動防散射屏(質(zhì)量)使數(shù)據(jù)采集從的第2角度,而不寄生低角度背景散射,特別是空氣散射。全自動質(zhì)量收縮避免了光束剪切,甚至與連續(xù)可變狹縫結(jié)合在一起,提供了整個角度范圍內(nèi)的計數(shù)統(tǒng)計數(shù)據(jù)。

· 的計數(shù)統(tǒng)計可以更快地收集數(shù)據(jù)和增加樣本吞吐量。

· 無寄生的低角度背景散射能大幅度提高制藥、粘土、沸石等大單元樣品的數(shù)據(jù)質(zhì)量。

· 的峰值到背景增強了小相位的靈敏度。

· *定量晶態(tài)和非晶相DIFFRAC.TOPAS

機動防散射屏

刀邊位置自動優(yōu)化,以實現(xiàn)限度地抑制寄生散射,同時不裁剪光束在任何角度第2。

利用DBO提高數(shù)據(jù)質(zhì)量

NISTSRM 8486(普通波特蘭熟料)沒有(藍(lán)色掃描)和機動防散射屏幕(紅色掃描)。所有其他測量條件保持相同。

 

三合一

三層™光學(xué)是D8進度表的關(guān)鍵部件,滿足了三種的X射線衍射幾何圖形在一種光學(xué)中的儀器分辨率的具體要求:

· 傳統(tǒng)粉末衍射發(fā)散光束(XRPD)

· 毛細(xì)管實驗用高強度平行光束,高度不敏感測量,表面敏感掠入射幾何,涂層厚度測定(Xrr)和微衍射(μxrd)。

· 用于外延薄膜和低對稱粉末樣品高分辨衍射的純Cu-Kα1平行光束

D8*加三光學(xué)

考慮到用戶的充分方便,三光功能在三種主要光束幾何之間的機動切換和*軟件控制的儀器對齊,而無需手動用戶干預(yù),通過的Smart杯b。TM情報。

掠入射幾何

多晶薄膜衍射的掠入射幾何

XRR幾何

XRR測定從0.1 nm到250 nm的薄膜厚度

布拉格-布倫塔諾幾何

用于粉末衍射的布拉格-布倫塔諾幾何

HRXRD幾何

2-反射通道切割單色儀在外延樣品上提供高強度的高分辨率

達(dá)芬奇設(shè)計-不妥協(xié)的易用性

達(dá)芬奇設(shè)計是D8前進作為一個*的模塊化系統(tǒng)的里程碑。從X射線管,通過光學(xué)和樣品階段一直到探測器,任何用戶--甚至是新手--都能夠從一種光束幾何學(xué)改變到另一種光束幾何形狀,或者可以毫無困難地交換單個組件。因此,我們的D8*技術(shù)為X射線衍射的任何可能應(yīng)用提供了的適應(yīng)性。

光學(xué)卡鎖變換

· 用軟件控制的Smart杯改變雙光學(xué)和三角光學(xué)的按鈕

· 鎖定開關(guān)至專用光學(xué)或不同波長

· 實時組件識別和狀態(tài)顯示

· 用于樣品安裝和定位的智能解決方案,使日常工作更容易

雙三角光學(xué)的按鍵變換

關(guān)鍵詞:數(shù)據(jù)采集
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