1.在測(cè)容性負(fù)載阻值時(shí)，絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流大小與測(cè)量數(shù)據(jù)有什么關(guān)系，為什么?
絕緣電阻測(cè)試儀輸出短路電流的大小可反映出該兆歐表內(nèi)部輸出高壓源內(nèi)阻的大小。當(dāng)被測(cè)試品存在電容量時(shí)，在測(cè)試過程的開始階段，絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的高壓源要通過其內(nèi)阻向該電容充電，并逐步將電壓充到絕緣電阻測(cè)試儀的輸出額定高壓值。顯然，如果試品的電容量值很大，或高壓源內(nèi)阻很大，這一充電過程的耗時(shí)就會(huì)加長(zhǎng)。其長(zhǎng)度可由R內(nèi)和C負(fù)載的乘積決定（單位為秒）。請(qǐng)注意，給電容充電的電流與被測(cè)試品絕緣電阻上流過的電流，在測(cè)試中是一起流入絕緣電阻測(cè)試儀內(nèi)的。絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅有絕緣電阻上的分量，也加入了電容充電電流分量，這時(shí)測(cè)得的阻值將偏小。

2.絕緣電阻測(cè)試儀在高壓高阻的測(cè)試環(huán)境中，為什么要求儀表接"G"端連線？
　　在被測(cè)試品兩端加上較高的額定電壓，且絕緣阻值較高時(shí)，被測(cè)試品表面受潮濕，污染引起的泄漏較大，示值誤差就大，而儀表"G"端是將被測(cè)試品表面泄漏的電流旁路，使泄漏電流不經(jīng)過儀表的測(cè)試回路，消除泄漏電流引起的誤差。

 3．在校測(cè)某些型號(hào)絕緣儀表"L"、"E"兩端額定輸出直流高壓時(shí)，用指針式萬用表DCV檔測(cè)L、E兩端電壓，為什么電壓會(huì)跌落很多，而數(shù)字式萬用表則不會(huì)？
高阻絕緣表現(xiàn)場(chǎng)測(cè)容性負(fù)載時(shí)（如主變），指針顯示阻值在某一區(qū)間突然跌落（不是正常測(cè)試時(shí)的zui大值區(qū)間內(nèi)的緩慢小幅擺動(dòng)），快速來回?cái)[動(dòng)，是什么原因？

4.造成該現(xiàn)象主要是試驗(yàn)系統(tǒng)內(nèi)某部位出現(xiàn)放電打火。絕緣表向容性被測(cè)試品充電中，當(dāng)容性試品被充至一定電壓時(shí)，如果儀表內(nèi)部測(cè)試線或被測(cè)試品中任一部位有擊穿放電打火，絕緣電阻測(cè)試儀就會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。判別辦法：（1）儀表測(cè)試座不接入測(cè)試線，開啟電源和高壓，看儀表內(nèi)是否有打火現(xiàn)象發(fā)生（若有打火可聽到放電打火聲）。（2）接上L、G、E測(cè)試線，不接被測(cè)試品，L測(cè)試線末端線夾懸空，開啟高壓，看測(cè)試導(dǎo)線是否有打火現(xiàn)象發(fā)生。若有打火現(xiàn)象，則檢查：a）L、G測(cè)試線芯線（L端）與裸露在外的線（G端）是否過近，產(chǎn)生拉弧打火。b）L端芯線插頭與測(cè)試座屏蔽環(huán)或測(cè)試夾子與被測(cè)試品接觸不良造成打火。c）測(cè)試線與插頭、夾子之間虛焊斷路，造成間隙放電。（3）接入被測(cè)試品，檢查末端線夾與試品接觸點(diǎn)附近有無放電打火。（4）排除以上原因，接好被測(cè)試品，開啟高壓，若儀表仍有上述現(xiàn)象則說明被測(cè)試品絕緣擊穿造成局部放電或拉弧。

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