高性能X射線熒光測量儀，涂層測厚儀操作規(guī)程，配有的硅漂移探測器(SDD)，涂層測厚儀應(yīng)用，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
特點
- 高性能機型，鐵基鋁基涂層測厚儀，具有強大的綜合測量能力
- 配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片
- 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，非接觸式涂層測厚儀，還適用于更復(fù)雜的多元素分析
- 由下至上的測量方向，在線涂層測厚儀，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位
典型應(yīng)用領(lǐng)域
- 對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
- 對有害物質(zhì)進行痕量分析，涂層測厚儀檢定，例如，d4涂層測厚儀，玩具中的鉛含量
- 在珠寶和手表業(yè)，qnix涂層測厚儀，以及在金屬精煉領(lǐng)域，非接觸涂層測厚儀，對合金進行高精度的分析
- 用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域
