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宇時(shí)先鋒UM-4超聲波測厚儀 A掃描測厚儀

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產(chǎn)品簡介

穿透涂層測量宇時(shí)先鋒UM-4D穿透涂層型超聲波測厚儀A掃描測厚儀UM-4是推出的新一代測厚儀，突破性技術(shù)為同等預(yù)算提供性能更優(yōu)異的測厚儀，它大大改進(jìn)了先前超聲波測厚儀的性能，具有更佳的測量穩(wěn)定性和可重復(fù)性

詳細(xì)介紹

穿透涂層測量宇時(shí)先鋒UM-4D穿透涂層型超聲波測厚儀 A掃描測厚儀

UM-4是推出的新一代測厚儀，突破性技術(shù)為同等預(yù)算提供性能更優(yōu)異的測厚儀，它大大改進(jìn)了先前超聲波測厚儀的性能，具有更佳的測量穩(wěn)定性和可重復(fù)性。廣泛應(yīng)用于石化、電力、船舶及制造業(yè)的管道、壓力容器及儲(chǔ)罐的壁厚測量。

系列三款型號(hào)
UM-4標(biāo)配，
UM-4D標(biāo)配+穿透涂層功能，
UM-4DL標(biāo)配+穿透涂層功能+存儲(chǔ)
穿透涂層測量宇時(shí)先鋒UM-4D穿透涂層型超聲波測厚儀 A掃描測厚儀
● 經(jīng)濟(jì)型全數(shù)字測厚儀
全數(shù)字測厚儀需要把模擬的超聲波信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)，然后對(duì)數(shù)字信號(hào)進(jìn)行運(yùn)算處理，終獲得高性能的厚度測量能力。UM-4系列的A掃描快照功能、過零測量技術(shù)、高分辨力都是以全數(shù)字技術(shù)為基礎(chǔ)的。
● 創(chuàng)新的A掃描快照功能，標(biāo)志著經(jīng)濟(jì)型測厚儀進(jìn)入全數(shù)字時(shí)代
UM-4在同檔產(chǎn)品中款提供A掃描波形顯示功能。聲波不超聲波不再是看不見摸不著的抽象概念，用戶在屏幕上可直接看到超聲信號(hào)波形，用于驗(yàn)證厚度讀數(shù)是否正確、分析出現(xiàn)問題的原因、幫助用戶找到解決問題的辦法。
● 采用突破性的過零測量技術(shù)
以全數(shù)字技術(shù)為基礎(chǔ)，采用過零測量技術(shù)，厚度測量值不受回波強(qiáng)度、材料衰減系數(shù)、增益和閘門高度的影響，具有高測量穩(wěn)定性和可靠性。
● 具有穿透涂層功能
我們之前推出了具有穿透涂層技術(shù)的UM-1D測厚儀，現(xiàn)在UM-4D與UM-4DL同樣具備這一的功能。該功能是通過測量基材的兩個(gè)連續(xù)底面回波實(shí)現(xiàn)的。

UM-4DL穿透涂層型超聲波測厚儀在該模式下還具有更多的優(yōu)勢(shì)：
1、免零點(diǎn)校準(zhǔn)；
2、高穩(wěn)定性，測量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響；
3、零漂移。
● 更多實(shí)用功能
◆ 增益：高、中、低三檔可調(diào)；
◆ 報(bào)警模式：報(bào)警時(shí)動(dòng)態(tài)改變厚度讀數(shù)顏色；
◆ 差值/縮減率：差值模式顯示實(shí)測厚度與預(yù)設(shè)厚度之間的差值變化。縮減率是計(jì)算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比。典型應(yīng)用是對(duì)因彎曲而變薄的金屬材料進(jìn)行測量；
◆ 大/小值捕獲：屏幕上同時(shí)顯示當(dāng)前厚度值、小厚度值和大厚度值。

關(guān)鍵詞：超聲波測厚儀測厚儀