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CSK-IA 試塊（含支架） - NB/T47013-2015承壓設(shè)備無損檢測標準試塊

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更新時間：2023-07-21 16:13:07瀏覽次數(shù)：315次

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CSK-IA試塊（含支架）-NB/T47013-2015承壓設(shè)備無損檢測標準試塊 CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進而來的主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用50和1

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CSK-IA 試塊（含支架） - NB/T47013-2015承壓設(shè)備無損檢測標準試塊

CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進而來的主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度;2利用50和圓孔測定斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分辨力。