JJYQ-400X低本底α、β測量儀特點(diǎn)及技術(shù)參數(shù)分析

【資料簡介】

JJYQ-400X低本底α、β測量儀特點(diǎn)及技術(shù)參數(shù)分析

產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　◆模塊化設(shè)計(jì)，標(biāo)準(zhǔn)插道式控制器，方便科研單位組合成不同功能系統(tǒng)；

　　◆可以同時(shí)測量α、β，也可單獨(dú)測α或β（*技術(shù)：四通道分步送樣）；

　　◆儀器主探測器采用HND-DS2型低本底α、β閃爍體，不怕污染、表面可擦洗，經(jīng)久耐用；

　　◆儀器反符合探測器采用HND-DS401型閃爍體，達(dá)到反符合降低本底的效果。反符合效率＞99% ；

　　◆測量時(shí)間、每個探測器的α閾（α）、β低閾（βL）、β高閾（βH）和反符合閾都可通過計(jì)算機(jī)調(diào)節(jié)。閾值調(diào)節(jié)精度高（zui小分度值為0.01V）；

　　◆程控程度高：儀器采用Rs-232串口或USB接口聯(lián)接計(jì)算機(jī)，自動控制測量過程，可打印結(jié)果及原始數(shù)據(jù)；

　　◆控制軟件用戶界面友好，自動化程度高，主要技術(shù)指標(biāo)及設(shè)備運(yùn)行狀態(tài)用戶可通過控制軟件自行測量和檢驗(yàn)；

　　◆有不同規(guī)格的探測器及樣品盤供用戶選用，以適應(yīng)不同的測試需求。

　　雙通道型：可同時(shí)測量兩個樣品

　　四通道型：可同時(shí)測量四個樣品

　　◆JJYQ-400X低本底α、β測量儀是當(dāng)前國內(nèi)新一代采用塑料雙閃爍體法測量α和β的放射性的反符合低本底α/β測量系統(tǒng)；

　　◆可同時(shí)測量樣品中的總α、總β活度；

　　◆具有效率高、本底低、串道比低、長期穩(wěn)定性好、無需耗材、經(jīng)久耐用、操作方便等特點(diǎn)；

　　主要技術(shù)參數(shù)：

　　產(chǎn)品執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)GB/T11682-2008、檢定規(guī)程JJG853-1993

　　產(chǎn)品應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)GB 5749-2006、 GB/T5750.13-2006、GB 8537-2008、GB19298-2003等

　　單位面積平均本底計(jì)數(shù)率/（計(jì)數(shù)·cm-2·min-1）

　　α ≤0.003        β ≤0.1

　　效率比

　　α ≥85%          β ≥58%

　　效率穩(wěn)定性

　　α ＜3%           β ＜8%

　　串道比

　　α射線對β道 ≤2.5%

　　β射線對α道 ≤0.3%

　　儀器靈敏度

　　α 5×10-4Bq

　　β 1×10-3 Bq

　　本底穩(wěn)定性：在24h,本底計(jì)數(shù)率變化應(yīng)在 （平均計(jì)數(shù)率±3σ）的范圍內(nèi)，其中σ為本底計(jì)數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)誤差。

　　注：本參數(shù)測量所用α參考源為239Pu，參考源活性區(qū)為Φ25mm，表面粒子發(fā)射率約為102粒子數(shù)/（min·2π）；β參考源為90Sr-90Y，參考源活性區(qū)為Φ20mm，表面粒子發(fā)射率約為102粒子數(shù)/（min·2π）。

　　高壓調(diào)節(jié)范圍0～1000V，穩(wěn)定度優(yōu)于0.5%；

　　絕緣電阻≥2MΩ；耐壓絕緣度＞1500V；

　　環(huán)境溫度5-40℃；相對濕度＜90%；

　　電源：交流220V±10%，50Hz，功耗≤20W；