防爆配電箱在使用環(huán)境中溫度組別具體有什么要求？

 溫度要求在與防爆相關(guān)的標(biāo)準(zhǔn)中，各防爆型式的設(shè)備均非常重視溫度，但是有些人員難以區(qū)分清楚這些溫度。我就簡單介紹一下幾個主要的溫度。與防爆相關(guān)的溫度主要分兩類，分別與設(shè)備、爆炸性物質(zhì)相關(guān)，由于篇幅關(guān)系，爆炸性物質(zhì)相關(guān)的溫度，會在其它文章里說明。這是防爆設(shè)備重要的溫度。由于爆炸性物質(zhì)可以被高溫表面點燃。

     因此，幾乎所有用于爆炸性環(huán)境的防爆設(shè)備或部件在進行檢驗時，都應(yīng)進行這一項目的檢驗。測定表面溫度的試驗應(yīng)在電氣設(shè)備額定電壓的90%～110%之間、設(shè)備達到表面溫度時的不利條件下進行。對不同防爆型式的設(shè)備，測定MST的部位也是不一樣的。如Pz正壓型、nR限制呼吸型、液浸型、充砂型等。

采用這些防爆型式時，外殼將內(nèi)部元件與爆炸性環(huán)境分隔開，內(nèi)部的高溫元件不與爆炸性環(huán)境接觸，即使溫度超過環(huán)境中爆炸性物質(zhì)的點燃溫度，也不會引起爆炸；或者采用隔爆型外殼，內(nèi)部的點燃不會引起環(huán)境的爆炸。這些防爆型式的設(shè)備只需要測量外殼外部的表面溫度即可。對增安型、本質(zhì)安全型、Px正壓、Py正壓等。

     采用這些保護型式時，外殼內(nèi)部依然存在爆炸性環(huán)境，并且外殼不能阻隔火焰?zhèn)鞑?，?nèi)部的過高的溫度會點燃外殼內(nèi)的爆炸性物質(zhì)，并傳播到環(huán)境中。這些防爆型式的設(shè)備，還應(yīng)當(dāng)測量外殼內(nèi)部發(fā)熱元件的表面溫度，并且應(yīng)當(dāng)在惡劣的工況下進行。在測量設(shè)備MST的試驗過程中，應(yīng)當(dāng)避免環(huán)境內(nèi)的通風(fēng)幫助設(shè)備進行額外的散熱。

    尤其是小型設(shè)備和外殼外部有肋板的。空氣自然流動時，在設(shè)備表面會有一層薄的層流，由于空氣自身的熱阻，此處的散熱情況較差，當(dāng)有額外的氣流時，將會破壞這個層流，有利于散熱，造成測得的MST低于惡劣工況下MST。在測量內(nèi)部元件的MST時，應(yīng)將測溫點設(shè)置在高溫元件的溫度處，通常是散熱條件不利的。

    或者是氣流死角，如元件面向線路板處，與熱對流垂直的線路板之間。在檢驗時，可以使用熱成像儀或者仿真軟件幫助確認溫度的。II類設(shè)備為了合理地對防爆設(shè)備進行分組，便于檢驗與現(xiàn)場使用，防爆標(biāo)準(zhǔn)中根據(jù)爆炸性物質(zhì)特性，規(guī)定了使用在該組別設(shè)備的表面溫度，從T1到T6共分為6個組別，在檢驗時。對于須承受例行試驗確定表面溫度的Ⅱ類電氣設(shè)備。

    不應(yīng)超過在電氣設(shè)備上標(biāo)志的溫度或溫度組別；對于須承受型式試驗確定表面溫度的Ⅱ類電氣設(shè)備，不應(yīng)超過在電氣設(shè)備上標(biāo)志的溫度或溫度組別，但對于TTT4和T3組（或標(biāo)志的溫度≤200℃）應(yīng)低5K；對于T2組和T1組（或標(biāo)志的溫度＞200℃）應(yīng)低10K；對I類設(shè)備。標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的表面溫度分為兩種情況。

當(dāng)設(shè)備表面可能堆積煤塵時，不應(yīng)超過150℃；當(dāng)設(shè)備表面不會堆積煤塵時，允許不超過450℃，制造商在設(shè)計時，可以根據(jù)產(chǎn)品的實際情況，在滿足安全要求的前提下，合理設(shè)計產(chǎn)品結(jié)構(gòu)。防爆配電箱的溫度要求對外殼內(nèi)部的元件來說，由于這些元器件往往比較小，而且表面積/體積比也大。