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鋰電池沖擊碰撞試驗機(jī)仿真裝備及相關(guān)組件在使用及運輸過程中,可能遭遇之隨機(jī)沖擊效應(yīng)為主。試驗執(zhí)行時通常將試件固定于夾具上或沖擊機(jī)試驗平臺上,沖擊波形使用規(guī)范中常使...
步入式恒溫恒濕實驗室可按照需要隨意調(diào)整,試驗室內(nèi)擱架、照明、承重等可進(jìn)行按需配置,同時具備試驗空間大、操作人員可以進(jìn)入試驗室進(jìn)行操作等特點,為批量、大型零件、半...
高溫精密烘箱高溫老化實驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
高溫烤箱 高溫恒溫箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
高溫烘箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
高溫老化試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
高溫試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備,用于測試和確定電工、電子及其他產(chǎn)品及材料進(jìn)行高溫或恒定試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。
溫濕度振動綜合試驗臺 試驗箱主要氣候箱和振動試驗臺的綜合,對試件施加溫度、濕度、振動應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗與可靠性試驗。
溫濕度振動三綜合試驗臺 試驗箱主要氣候箱和振動試驗臺的綜合,對試件施加溫度、濕度、振動應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗與可靠性試驗。
溫濕度振動復(fù)合環(huán)境試驗箱主要氣候箱和振動試驗臺的綜合,對試件施加溫度、濕度、振動應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗與可靠性試驗。
溫濕度振動復(fù)合環(huán)境試驗機(jī) 試驗箱主要氣候箱和振動試驗臺的綜合,對試件施加溫度、濕度、振動應(yīng)力進(jìn)行綜合環(huán)境試驗與可靠性試驗。
跑馬式振動試驗臺是檢測產(chǎn)品包裝設(shè)計是否符合運輸條件的簡單而必要的手段,避免不必要的損失,此運輸臺是根據(jù)美國及歐州運輸標(biāo)準(zhǔn),幷參照美國同類設(shè)備改進(jìn)制造而成,具有精...
模擬運輸振動試驗臺是檢測產(chǎn)品包裝設(shè)計是否符合運輸條件的簡單而必要的手段,避免不必要的損失,此運輸臺是根據(jù)美國及歐州運輸標(biāo)準(zhǔn),幷參照美國同類設(shè)備改進(jìn)制造而成,具有...
汽車模擬振動試驗機(jī)是檢測產(chǎn)品包裝設(shè)計是否符合運輸條件的簡單而必要的手段,避免不必要的損失,此運輸臺是根據(jù)美國及歐州運輸標(biāo)準(zhǔn),幷參照美國同類設(shè)備改進(jìn)制造而成,具有...
模擬汽車運輸振動試驗臺是檢測產(chǎn)品包裝設(shè)計是否符合運輸條件的簡單而必要的手段,避免不必要的損失,此運輸臺是根據(jù)美國及歐州運輸標(biāo)準(zhǔn),幷參照美國同類設(shè)備改進(jìn)制造而成,...
模擬運輸振動試驗機(jī)是檢測產(chǎn)品包裝設(shè)計是否符合運輸條件的簡單而必要的手段,避免不必要的損失,此運輸臺是根據(jù)美國及歐州運輸標(biāo)準(zhǔn),幷參照美國同類設(shè)備改進(jìn)制造而成,具有...
模擬運輸振動臺是檢測產(chǎn)品包裝設(shè)計是否符合運輸條件的簡單而必要的手段,避免不必要的損失,此運輸臺是根據(jù)美國及歐州運輸標(biāo)準(zhǔn),幷參照美國同類設(shè)備改進(jìn)制造而成,具有精度...
機(jī)械沖擊測試臺主要用于小型產(chǎn)品的沖擊試驗,以評估產(chǎn)品承受沖擊破壞的能力。它通常用于電子元件,電子電路板和其他環(huán)境測試中。
機(jī)械沖擊實驗臺主要用于小型產(chǎn)品的沖擊試驗,以評估產(chǎn)品承受沖擊破壞的能力。它通常用于電子元件,電子電路板和其他環(huán)境測試中。
加速度沖擊測試臺主要用于小型產(chǎn)品的沖擊試驗,以評估產(chǎn)品承受沖擊破壞的能力。它通常用于電子元件,電子電路板和其他環(huán)境測試中。
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