電路板鍍層測(cè)厚儀Thick800A_天瑞銷售
電路板鍍層測(cè)厚儀以光電倍增管等光探測(cè)器測(cè)量譜線不同波長(zhǎng)位置強(qiáng)度的裝置。其構(gòu)造由個(gè)入射狹縫，個(gè)色散系統(tǒng)，個(gè)成像系統(tǒng)和個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長(zhǎng)或波長(zhǎng)區(qū)域，并在選定的波長(zhǎng)上（或掃描某波段）進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)定。Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門(mén)研發(fā)用于鍍層行業(yè)的款儀器，可自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測(cè)試，由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門(mén)為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
Thick800A專門(mén)為電路板設(shè)計(jì)的鍍層測(cè)厚儀，它可滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求，φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求，高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動(dòng)定位測(cè)試高度，定位激光確定定位光斑，確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊，鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)，高分辨率探頭使分析結(jié)果更加，良好的射線屏蔽作用，測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)。Thick800A可分析范圍從硫(S)到鈾（U）元素，同時(shí)可以分析30種以上元素，五層鍍層，分析含量般為ppm到99.9% ，鍍層厚度般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）。
Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀
1、儀器概述
Thick 8000 鍍層測(cè)厚儀是專門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
2、性能優(yōu)勢(shì)
精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
的樣品觀測(cè)系統(tǒng)
的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞
采用大面積高分辨率探測(cè)器，降低檢出限，提高測(cè)試精度
自動(dòng)智能控制方式，鍵式操作!
開(kāi)機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位
開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)，升起Z軸測(cè)試平臺(tái)，方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)，下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦
直接點(diǎn)擊景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕，自動(dòng)完成測(cè)試并顯示測(cè)試結(jié)果
3、技術(shù)指標(biāo)
分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素，多達(dá)五層鍍層
檢出限：可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm
分析含量：般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性：可達(dá)0.1%
SDD探測(cè)器：分辨率低至135eV
采用的微孔準(zhǔn)直技術(shù)，小孔徑達(dá)0.1mm，小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察：配備景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺(tái)尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度 ：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃～30℃
4、測(cè)試實(shí)例
在計(jì)數(shù)率的情況下能分辨相近元素，大大提高測(cè)試穩(wěn)定性、降低檢測(cè)限。
11次測(cè)量結(jié)果（Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對(duì)比如下：
| 次數(shù) | Thick8000 | 行業(yè)內(nèi)其他儀器 |
| 1 | 0.042 | 0.0481 |
| 2 | 0.043 | 0.0459 |
| 3 | 0.043 | 0.0461 |
| 4 | 0.0412 | 0.0432 |
| 5 | 0.0429 | 0.0458 |
| 6 | 0.0436 | 0.0458 |
| 7 | 0.0427 | 0.0483 |
| 8 | 0.0425 | 0.045 |
| 9 | 0.0416 | 0.0455 |
| 10 | 0.0432 | 0.0485 |
| 11 | 0.0422 | 0.043 |
| 平均值 | 0.0425 | 0.0459 |
| 標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 0.0007 | 0.0019 |
| 相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差 | 1.70% | 4.03% |
| 極差 | 0.0024 | 0.0055 |
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