德國Instrument Systems（IS）CAS140D DTS光譜輻射顯示測量系統(tǒng)
CAS 140D – 光測量標準
Instrument Systems 的 CAS 140D 陣列光譜儀被視為弱光源和輻射度的光譜光測量技術(shù)的基準。
該產(chǎn)品基于久經(jīng)考驗的交叉 Czerny-Turner 光譜儀并配備具有冷卻性能的 CCD 探測器，具有以下特色
測量準確度較高和雜散光抑制
再現(xiàn)性和穩(wěn)定性
積分時間短
CAS 140D 的應用范圍從校準實驗室的標準儀器到生產(chǎn)中的 24/7-Dauermessung。Instrument Systems 的一個特定質(zhì)量屬性是可追溯至 PTB 和 NIST 的校準，我們的光譜儀都配備該校準功能。
與廣泛的配件搭配組合，可以將光譜儀升級為一體化系統(tǒng)，適用于各種光譜輻射和光度測量任務。
在校準過程中使用雜散光校正矩陣運算（可選），可進一步降低 CAS 140D 原本就出色的雜散光值。因此，該測量儀器也非常適合 UV-LED 和 LED 光源危害等級（光生物）的測定。
CAS 140D – 產(chǎn)品性能：
面向 LED、照明設(shè)備或顯示屏的一體化系統(tǒng)
CAS 140D 是 Instrument Systems 系統(tǒng)解決方案中的重要測量儀器。輔以軟件包（SpecWinPro、LumiSuite）、積分球、測角儀、圖像色度測量儀和廣泛配件，我們針對測量挑戰(zhàn)提供合適的一體化系統(tǒng)，按照您行業(yè)的當前標準制定。
無論是需要對個別 LED、UV-LED、VCSEL、SSL 產(chǎn)品執(zhí)行輻射或光度測量，還是需要評估基于 LED、OLED 或 µLED 的顯示屏 – CAS 140D 適用于想得到的光度應用以及實驗室和生產(chǎn)挑戰(zhàn)。
CAS 140D – 技術(shù)數(shù)據(jù)
型號 | UV/VIS | UV/VIS/NIR | VIS | VIS/NIR |
|---|
光譜范圍 | 200-830 nm | 220-1020 nm 300-1100 nm | 360-830 nm | 380-1040 nm |
光譜分辨率
(100 µm 狹縫) | 3.0 nm | 3.7 nm | 2.2 nm | 3.0 nm |
數(shù)據(jù)點間隔 | 0.65 nm | 0.8 nm | 0.5 nm | 0.65 nm |
LED 的雜散光 | 1·10-4 | 1·10-4 | 1·10-4 | 1·10-4 |
波長測量精度 | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm | ±0.2 nm |
用于輻射和亮度測量的一體化系統(tǒng) DTS140D NVIS 通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|
光譜儀 | CAS 140D 光譜范圍為 380-1040 nm 的 CAS 140D153U1I (VIS-NIR)。 |
光學探頭和鏡頭 | 用于 4 種測量點大小的帶機動孔徑輪的 TOP 200 光學探頭，具有 752 x 480 像素分辨率的集成式校準攝像頭和 HRL90 鏡頭。提供更多焦距選擇。 |
校準 | 光譜輻射和亮度校準，可追溯至國家標準 PTB 或 NIST。包括 MIL 證書。 |
軟件 | SpecWin Pro 實驗室軟件，具有各種功能和特殊 NVIS 評估模塊。 |
雜散光矩陣（可選，不屬于 MIL 測試必需配置） | 雜散光矩陣（可選，不屬于 MIL 測試必需配置） |
輻照度光學探頭（可選） | 用于依據(jù) SAE ARP5825（外部照明 NVIS 友好型）標準進行測量 |
定位器（可選） | 手動或全自動定位器/測角儀，例如 DTS 500 |
用于 VCSEL 特性測定的精密系統(tǒng)
VCSEL 具有出色的光束特性，因此適用于關(guān)鍵應用。典型示例是通過 LiDAR 進行面部識別。但是，在有人員活動的環(huán)境中使用激光二極管，使測定其光束特性變得重要，并對使用的測量系統(tǒng)提出了挑戰(zhàn)。
在 CAS 系列光譜儀高分辨率版本的基礎(chǔ)上，Instrument Systems 提供了針對實驗室 VCSEL 特性測定而進行優(yōu)化調(diào)節(jié)的測量系統(tǒng)。借助合適的配件，可滿足不同的個別需求。請與我們聯(lián)系！
關(guān)鍵特性：
0.12 nm 的出色光譜分辨率
4 ms 以上的積分時間
用于脈沖激光二極管/VCSEL 的陣列光譜儀
測量挑戰(zhàn)
激光二極管通常在很窄的光譜范圍內(nèi)提供好的性能。因此，Instrument Systems 提供光譜分辨率達 0.1x nm、積分時間達 4 ms 以上的光譜儀，用于實驗室 VCSEL 測量。這些光譜儀的可追溯校準的一個優(yōu)勢是可從測得的光譜中簡單地計算出輻射通量?；蛘撸摐y量系統(tǒng)也可由光電二極管擴展，例如，用于測量脈沖激光二極管的脈沖波形。如果需要測試 ns 范圍的脈沖，可使用系統(tǒng) (PVT 110)。如果您有此類需求，請聯(lián)系我們。
系統(tǒng)配置
實驗室用于測定激光二極管/VCSEL 的輻射通量的一體化系統(tǒng)通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|
光譜儀 | - 具有 0.2 nm 光譜分辨率的高分辨率 CAS 140CT-HR，作為配有帶制冷的 CCD 探測器的測量解決方案，可實現(xiàn)穩(wěn)定性，例如在參考系統(tǒng)中。 - 具有 0.1x nm 光譜分辨率的高分辨率 CAS 120B-HR，作為 CAS 140CT-HR 的替代產(chǎn)品。 |
積分球 | - 具有 75 和 100 mm 小內(nèi)徑的 ISP 75 和 ISP 100。外形小巧，適合安裝在處理器和探測器系統(tǒng)中。 - 可選：帶光電二極管的 ISP 100，例如，使用脈沖激光二極管測定脈沖波形特性。 - 替代產(chǎn)品：ISP 150L，內(nèi)徑為 150 mm，直徑為 50 mm 的測量端口可用于測量較大激光模塊/陣列，帶有借助集成式輔助光源實現(xiàn)的自吸收修正功能。 |
| 校準 | 可追溯至標準 PTB 或 NIST 的校準。 |
軟件 | SpecWin Pro 實驗室軟件。CAS.dll 和 SDK，用于集成到客戶的生產(chǎn)流程中。 |
IR 參考 LED
（可選） | ACS-570-15、-17：具有 860 nm 和 950 nm 的參考 LED。為了穩(wěn)定操作和精度，建議與穩(wěn)定的 PSU-10 |
用于 UV-LED 生產(chǎn)的參考系統(tǒng)
UV-LED 實驗室測量站用于測試新產(chǎn)品，或為 UV-LED 生產(chǎn)構(gòu)建參考系統(tǒng)等。為了滿足新測量場景的需要，Instrument Systems 的產(chǎn)品組合中的單個系統(tǒng)組件需要不斷地進行技術(shù)改進。
關(guān)鍵特性：
測量挑戰(zhàn)
要準確地測量 UV-LED 的輻射通量，需要靈敏的光學測量系統(tǒng)進行輻射特性測定。適用于光功率通常相對較低的 UVB 和 UVC-LED 的頻譜范圍。
系統(tǒng)配置
實驗室用于測定 UV-LED 的輻射通量的一體化系統(tǒng)通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|
光譜儀 | -CAS 140D-157 (UV-VIS)，光譜范圍為 200-830 nm，在 200 nm 以上 UV 范圍內(nèi)的靈敏度較好。 |
積分球 | -積分球 ISP50UV、ISP150UV 和 ISP250UV，內(nèi)徑分別為 50、150 和 250 mm，采用 PTFE 反射材料，200 nm 以上 UV 范圍內(nèi)具有高光通量。用于放置 LED 測試夾具的套筒板和用于外部輔助光源的 SMA 連接可供實驗室使用。 |
| 校準 | -可追溯至標準 PTB 或 NIST 的校準。 |
軟件 | -實驗室軟件，具有測量 LED 的多項功能 |
UV 參考 LED（可選） | -ACS-570-24、-26、-28：具有 285 nm、315 nm 和 365 nm 的參考 LED，用于測試 UV 測量系統(tǒng)。與穩(wěn)定的 PSU-10 電源結(jié)合使用。 |
雜散光矩陣（可選） | -使用光譜儀特定的數(shù)值雜散光校正可實現(xiàn)盡可能較好的雜散光校正。 |
輔助光源（可選） | -LS500 雙光源，使用鹵素燈和氘燈進行自吸收校正。 |
LED 測試夾具（可選） | -帶或不帶主動制冷的制定 LED 測試夾具，為積分球的 LED 套筒板量身制定。 |
用于 VCSEL 特性測定的精密系統(tǒng)
VCSEL 具有出色的光束特性，因此適用于關(guān)鍵應用。典型示例是通過 LiDAR 進行面部識別。但是，在有人員活動的環(huán)境中使用激光二極管，使測定其光束特性變得重要，并對使用的測量系統(tǒng)提出了挑戰(zhàn)。
在 CAS 系列光譜儀高分辨率版本的基礎(chǔ)上，Instrument Systems 提供了針對實驗室 VCSEL 特性測定而進行優(yōu)化調(diào)節(jié)的測量系統(tǒng)。借助合適的配件，可滿足不同的個別需求。請與我們聯(lián)系！
關(guān)鍵特性：
0.12 nm 的出色光譜分辨率
4 ms 以上的積分時間
用于脈沖激光二極管/VCSEL 的陣列光譜儀
測量挑戰(zhàn)
激光二極管通常在很窄的光譜范圍內(nèi)提供好的性能。因此，Instrument Systems 提供光譜分辨率達 0.1x nm、積分時間達 4 ms 以上的光譜儀，用于實驗室 VCSEL 測量。這些光譜儀的可追溯校準的一個優(yōu)勢是可從測得的光譜中簡單地計算出輻射通量?；蛘?，該測量系統(tǒng)也可由光電二極管擴展，例如，用于測量脈沖激光二極管的脈沖波形。如果需要測試 ns 范圍的脈沖，可使用系統(tǒng) (PVT 110)。如果您有此類需求，請聯(lián)系我們。
系統(tǒng)配置
實驗室用于測定激光二極管/VCSEL 的輻射通量的一體化系統(tǒng)通常包含以下部件：
| 部件 | 描述 |
|---|
光譜儀 | - 具有 0.2 nm 光譜分辨率的高分辨率 CAS 140CT-HR，作為配有帶制冷的 CCD 探測器的測量解決方案，可實現(xiàn)穩(wěn)定性，例如在參考系統(tǒng)中。 - 具有 0.1x nm 光譜分辨率的高分辨率 CAS 120B-HR，作為 CAS 140CT-HR 的替代產(chǎn)品。 |
積分球 | - 具有 75 和 100 mm 小內(nèi)徑的 ISP 75 和 ISP 100。外形小巧，適合安裝在處理器和探測器系統(tǒng)中。 - 可選：帶光電二極管的 ISP 100，例如，使用脈沖激光二極管測定脈沖波形特性。 - 替代產(chǎn)品：ISP 150L，內(nèi)徑為 150 mm，直徑為 50 mm 的測量端口可用于測量較大激光模塊/陣列，帶有借助集成式輔助光源實現(xiàn)的自吸收修正功能。 |
| 校準 | 可追溯至標準 PTB 或 NIST 的校準。 |
軟件 | SpecWin Pro 實驗室軟件。CAS.dll 和 SDK，用于集成到客戶的生產(chǎn)流程中。 |
IR 參考 LED
（可選） | ACS-570-15、-17：具有 860 nm 和 950 nm 的參考 LED。為了穩(wěn)定操作和精度，建議與穩(wěn)定的 PSU-10 電源結(jié)合使用。 |
德國Instrument Systems（IS）CAS140D DTS光譜輻射顯示測量系統(tǒng)
