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渦流測(cè)厚儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)ED400

品       牌

廠商性質(zhì)經(jīng)銷(xiāo)商

所  在  地北京市

更新時(shí)間:2017-06-30 19:09:22瀏覽次數(shù):1292次

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ED400型渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型,儀器性能顯著提高。適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)氧化膜或涂層厚度,測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。

ED400型渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型,儀器性能顯著提高。
      儀器適于測(cè)量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)氧化膜或涂層厚度,還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)氧化膜或涂層厚度,測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
      儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)、銷(xiāo)售現(xiàn)場(chǎng)或施工現(xiàn)場(chǎng)對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行快速、無(wú)損的膜厚檢查, 可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)和質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。
      儀器符合標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流法》。

      天星渦流測(cè)厚儀自1993年開(kāi)始生產(chǎn)以來(lái),伴隨著我國(guó)鋁加工行業(yè)的成長(zhǎng),其自身也在不斷改進(jìn)和提高,目前,已生產(chǎn)了ED200型、ED300型和ED400型三代產(chǎn)品, ED400型是一代產(chǎn)品,其產(chǎn)品質(zhì)量和測(cè)試精度達(dá)到國(guó)外儀器水平,其耐用性非常突出,超過(guò)國(guó)內(nèi)外儀器。天星測(cè)厚儀以良好的質(zhì)量,及時(shí)、優(yōu)質(zhì)、低費(fèi)用的售后服務(wù)得到用戶的廣泛贊譽(yù)和認(rèn)可,天星測(cè)厚儀在鋁型材行業(yè)的*超過(guò)90%,成為該行業(yè)的產(chǎn)品。

 

儀器特點(diǎn)

       
ED400型與ED300型相比,具有如下特點(diǎn):

 

﹡ 量程寬   ED400型量程達(dá)到0~500μm。

﹡ 精度高   測(cè)量精度達(dá)到2%。
﹡ 分辨率高   分辨率達(dá)到0.1μm。
﹡ 校正簡(jiǎn)便   只校正“0”和“50μm”兩點(diǎn),即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計(jì)精度。
﹡ 基體導(dǎo)電率影響小   基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時(shí),測(cè)量誤差不大于1~2μm。
﹡ 可靠性提高   采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件,電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化,儀器可靠性提高。
﹡ 穩(wěn)定性提高   采用*的溫度補(bǔ)償技術(shù),測(cè)量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)長(zhǎng)期使用。
﹡ 探頭芯壽命長(zhǎng)   采用高強(qiáng)度磁芯材料,微調(diào)了探頭設(shè)計(jì),探頭芯壽命可大大延長(zhǎng)。

 

技術(shù)參數(shù)

測(cè)量范圍:     0~500μm
測(cè)量精度:     0~50μm:±1μm;
                    50~500μm:±2%
分 辨 率:      0~50μm:0.1μm;
                    50~500μm:1μm;
                    0~500μm:1μm(可選)
使用溫度:     5~45℃
外形尺寸:     150mm×80mm×30mm
重      量:     280g

 

 

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)            
探頭            
基體(6063鋁合金)
校正箔片   一套4片(附檢測(cè)報(bào)告)
儀器箱

可選附件

備用探頭
基體
校正箔片(附檢測(cè)報(bào)告

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