X光鍍層測厚儀及ROHS原素分析儀是在XRF-2020系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能,其物點為:高分辨率,固態(tài)探測器;分析有害物質(zhì),元素分析分之 ppm - 100%,符合RoHS / WEEE標準測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析;電鍍?nèi)芤悍治?;定性分析超過30種元素,能夠測量液體,固體,粉末,薄膜和不規(guī)則形狀;貴金屬元素含量和分析(金,銀,鉑,和珠寶);自動過濾器,多準直儀(五個準直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
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