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樣品標準數(shù)量：4 臺。
測試周期：1 天。
1.1. 低溫跌落試驗（Low temperature Drop Test）
測試環(huán)境：-10°C；3臺手機；開機狀態(tài)。
試驗方法：將手機進行電性能參數(shù)測試后處于開機狀態(tài)放置在-10° C的低溫試驗箱內(nèi)1小時后取出，進行1.3米的６個面跌落，２個循環(huán)，要求3分鐘內(nèi)完成跌落，方法同常溫跌落。
檢驗標準：手機外觀，結(jié)構(gòu)，功能和電性能參數(shù)符合要求。
1.2. 扭曲測試（Twist Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25°C）；2臺；開機狀態(tài)；2N·m力矩反復扭曲手機1000次。
檢驗標準：手機沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。
1.3. 坐壓測試（Squeeze Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25°C）；2臺；開機狀態(tài)；45Kg力反復擠壓手機1000次
檢驗標準：手機沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。
1.4. 鋼球跌落測試（Ball Drop Test）
測試環(huán)境：室溫（20~25° C）；2臺手機；100g鋼球20cm高垂直打擊鏡片表面。
檢驗標準：手機鏡蓋無變形，無裂縫，無破損（允許有白點）， LCD功能正常。
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