從1974年引入薄膜技術(shù)研發(fā)薄膜鉑熱電阻元件,成功解決鉑熱電阻元件的成本及應用問題起,至今已有30多年的歷史,隨著照相平板印刷技術(shù)的日益發(fā)展,薄膜鉑熱電阻元件近幾年的發(fā)展突飛猛進。
熱效應進行溫度測量的,即電阻體的阻值隨溫度的變化而變化的特性。因此,只要測量出感溫熱電阻的阻值變化,就可以測量出溫度。
隔爆型熱電阻通過特殊結(jié)構(gòu)的接線盒,裝配式熱電偶把其外殼內(nèi)部爆炸性混合氣體因受到火花或電弧等影響而發(fā)生的爆炸局限在接線盒內(nèi),生產(chǎn)現(xiàn)場不會引超爆炸。隔爆型熱電阻可用于具有爆炸危險場所的溫度測量。熱電阻的測溫原理與熱電偶的測溫原理不同的是,熱電阻是基于電阻。
鎧裝熱電阻的發(fā)展,在很大程度上取決于其核心部件,鉑熱電阻元件的發(fā)展。從傳統(tǒng)的云母鉑熱電阻元件、陶瓷鉑熱電阻元件、玻璃鉑熱電阻元件到厚膜鉑熱電阻元件和薄膜鉑熱電阻元件,鉑熱電阻元件的發(fā)展方向已轉(zhuǎn)移到膜式結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品上,尤其是薄膜鉑熱電阻元件。
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