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Leica 修塊機(jī) 掃描電鏡 EM TRIM2是一套高速研磨修塊系統(tǒng),一體化體視鏡和LED環(huán)型照明,為生物和工業(yè)樣品進(jìn)行修塊。銑刀研磨步進(jìn)為1μm,可垂直觀察,...
Leica 離子減簿儀 電鏡制樣顯微鏡 使您的樣品具備高水平的靈活性,具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結(jié)構(gòu)。*的離子束研磨系統(tǒng)結(jié)合了在一個(gè)單工作臺面單元上制備...
Leica EM CPD300臨界點(diǎn)干燥儀可以完成微型機(jī)電系統(tǒng)(MEMS)等樣品的干燥。像花粉、組織、植物、昆蟲等等生物樣品,以及如微型機(jī)電系統(tǒng)(MEMS:Mi...
GeminiSEM系列場發(fā)射電子顯微鏡 掃描電鏡 具有出色的探測效率,能夠輕松地實(shí)現(xiàn)亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下,更高的表面細(xì)節(jié)信息靈敏度...
德國蔡司Sigma 系列zeiss場發(fā)射電子顯微鏡掃描電鏡 用于高品質(zhì)成像與高級分析. 將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合,利用成熟的 Gemini 電子光...
zeiss 分析型掃描電鏡 EVO 18是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡,為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)。標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS & WDC)接口,另有用于...
ParticleSCAN VP蔡司電子顯微鏡 掃描電鏡配有 SmartPI 用戶界面, 堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì)使其能為自動(dòng)顆粒度分析提供更高度的靈活和耐用性。這款便攜式...
德國蔡司MultiSEM 505/506 蔡司電子顯微鏡掃描電鏡專為 7 x 24 小時(shí)的連續(xù)、可靠運(yùn)行而設(shè)計(jì)。只需簡單設(shè)置高性能數(shù)據(jù)采集流程,MultiSEM...
德國蔡司JetSCAN系列便攜式電子顯微鏡 掃描電鏡用于發(fā)動(dòng)機(jī)安全檢測與分析,是一款用于軸承磨損狀態(tài)監(jiān)測的診斷與預(yù)測工具。它可為噴氣式發(fā)動(dòng)機(jī)頻譜、發(fā)電輸電設(shè)備提...
zeiss 掃描電子顯微鏡平臺EVO 系列 作為高性能的掃描電子顯微鏡,EVO 系列可為顯微鏡專家和新用戶帶來直觀且易操作的使用體驗(yàn)。憑借豐富的選件,EVO 可...
Leica超薄切片自動(dòng)染色機(jī) 掃描電鏡 程度減少用戶接觸有毒試劑的機(jī)會(huì),并有效節(jié)省試劑消耗。儀器采用蠕動(dòng)泵和非接觸式閥門設(shè)計(jì),試劑直接從管路系統(tǒng)進(jìn)入樣品倉,快速...
Leica 冷凍超薄切片機(jī)掃描電鏡EM UC7是一款為室溫完美切片設(shè)計(jì)的超薄切片機(jī)和為冷凍完美切片的冷凍超薄切片機(jī). 提供半薄, 超薄切片以及樣品表面光滑處理,...
Leica 冷凍超薄切片附件 電鏡制樣顯微鏡 是專為徠卡EM UC7和EM UC6 而設(shè)計(jì)的. 僅需數(shù)分鐘,就可以將您的Leica EM FC7冷凍超薄切片附件...
Leica 超薄切片機(jī) 電鏡制樣顯微鏡 可快速獲取適用于序列斷層成像的高品質(zhì)連續(xù)切片. 通過掃描電鏡 (SEM) 自動(dòng)創(chuàng)建并收集數(shù)以百計(jì)*適用于序列斷層成像的連...
Zeiss 成像系統(tǒng) 掃描電鏡 用于蔡司FE-SEM對生物樣品實(shí)現(xiàn)切面成像。是一種快速便捷,以納米分辨率實(shí)現(xiàn)三維重構(gòu)的成像方式。憑借3View®,您可...
Leica藥品研磨系統(tǒng) 掃描電鏡 德國徠卡為制藥企業(yè)量身定制的EM RAPID藥片研磨系統(tǒng),可對固體藥片進(jìn)行處理,用于分析藥片中有效成分的分布情況。利用鎢鋼刀或...
倒置式工業(yè)顯微鏡 Leica 掃描電鏡CTR基礎(chǔ)控制箱,CRT高級控制箱 6位非編碼反射模塊轉(zhuǎn)換盤
Leica 玻璃制刀機(jī) 電鏡制樣顯微鏡為電鏡和光鏡切片提供完美的玻璃刀. 采用平衡斷裂法,確保制備出完美的玻璃刀,有三種規(guī)格玻璃條可供選擇:6.4mm,8mm,...
Leica 精研一體機(jī) 電鏡制樣顯微鏡具有定點(diǎn)修塊拋光功能,是用鋸,磨,銑削,拋光樣品后,供掃描電鏡,透射電鏡,和LM技術(shù)檢測。帶有一體化體視鏡,用于精確定位及...
Leica 三離子束切割儀 電鏡制樣顯微鏡 可制備橫切面和拋光表面,用于掃描電子顯微鏡 (SEM)、微觀結(jié)構(gòu)分析 (EDS、WDS、Auger、EBSD) 和 ...
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