三箱溫度沖擊試驗箱適用于電子元器件的安性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。試驗箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件（待測品）放置在試驗箱中部，高溫沖擊時，上風門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時，上風門關(guān)閉，下風門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。
三箱溫度沖擊試驗箱特點：
1．采用LCD中英文顯示觸摸式溫濕度控制器，操作簡單，程式編輯容易。
2．可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況相關(guān)資料、設(shè)定程式曲線、開機注意事項、機器維護保養(yǎng)方法。
3.運轉(zhuǎn)中發(fā)生異常狀況，螢幕上即刻自動顯示故障原因并提供排除故障方法。
4.采用多巽式送風機送風循環(huán)，溫度分布均勻。
5．可加裝記錄器，將溫濕度曲線記錄。
6．附R232接口，可電腦連接操作。
三箱溫度沖擊試驗箱滿足的試驗方法有：GB/T2423.22-1989溫度變化試驗；GB/T2423.2-1989高溫試驗方法；GB/T2423.1-1989低溫試驗方法；GJB360.7-87溫度沖擊試驗；GJB150.5-86溫度沖擊試驗；IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化；GJB367.2-87405溫度沖擊試驗；GB/T2423.22-2002溫度變化；GB/T2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則；EIA364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估等等。
內(nèi)尺寸可選擇：寬36*高35*深40cm；二：寬50*高40*深40cm；三：寬60*高50*深50cm；四：寬70*高60*深60cm；五：寬100*高100*深100cm。
溫度范圍（范圍內(nèi)任選）可以選擇，A：-40℃~150℃；B：-55℃~150℃；-65℃~150℃，高溫影響價格不大，所以般默認為150度限高溫。
溫度轉(zhuǎn)換時間:10秒以內(nèi),溫度沖擊恢復時間：≤5min。
溫度波動度：±0.5℃;溫度偏差：±2℃
三箱溫度沖擊試驗箱用途：
該產(chǎn)品適用于電子元器件的安性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
二箱式：上部為高溫箱，下部為低溫箱，兩箱之間由樣品架連結(jié)，經(jīng)氣動系統(tǒng)在兩箱間切換。
三箱式：該沖擊試驗箱為待測品靜置之冷熱交替沖擊方式，廣泛使用于電子零組件測試，半導體，電子線路板，金屬化學，材料等測試設(shè)備。試驗箱下部為低溫蓄冷區(qū)，上部為高溫蓄熱區(qū)，試件（待測品）放置在試驗箱中部，高溫沖擊時，上風門打開，形成高溫內(nèi)循環(huán)。低溫沖擊時，上風門關(guān)閉，下風門打開，形成低溫內(nèi)循環(huán)。該沖擊試驗箱的特點是：試件（待測品）靜止不動，使用戶避免了因試件移動帶來的諸多不便。
環(huán)保在線