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集成電路引線彎曲試驗(yàn)儀主要用于測定集成電路產(chǎn)品、IC芯片、電子元器件及設(shè)備物理性能試驗(yàn)中引線涂覆層附著力檢測以及引腳在拉力、彎曲、扭轉(zhuǎn)三種作用力下的形變狀態(tài)。
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