陳霞
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當(dāng)前位置:秋山科技(東莞)有限公司>>物理性能檢測>>厚度檢測>> 臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地東莞市
更新時(shí)間:2024-03-20 11:23:33瀏覽次數(shù):1262次
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測量范圍 | 1 | 類型 | 數(shù)字式 |
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日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S
實(shí)現(xiàn)高測量重復(fù)性(± 0.01 μm 或更小,取決于對象和測量條件)
不易受溫度變化的影響
可以生產(chǎn)用于研究和檢查的離線式和在制造過程中使用的在線式。
反射型允許從薄膜的一側(cè)進(jìn)行測量
僅可測量透明涂膜層(取決于測量條件)
模型 | 飛行時(shí)間 |
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測量方法 | 非接觸式/光譜干涉式 |
測量對象 | 電子和光學(xué)用透明平滑膜、多層膜 |
測量原理 | 光譜干擾型 |
日本YAMABUN山文電氣臺式離線分光干涉式測厚儀TOF-S
測量厚度 | 1~50μm(薄材料)、10~150μm(厚材料) |
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測量長度 | 50-5000 毫米 |
測量間距 | 1 毫米 ~ |
小顯示值 | 0.001微米 |
電源電壓 | AC100 V 50/60 Hz |
工作溫度限制 | 5~45℃(測量時(shí)溫度變化1℃以內(nèi)) |
濕度 | 35-80%(無冷凝) |
測量區(qū)域 | φ0.6 毫米 |
測量間隙 | 約 30 毫米 |
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