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日本and超聲波測(cè)厚儀 AD-3255用于測(cè)量各種材料的厚度，例如金屬、玻璃、塑料、陶瓷和環(huán)氧樹(shù)脂。?一個(gè)單元覆蓋廣泛的測(cè)量范圍（0.8-300 mm）?0.0...

日本custom超聲波測(cè)厚儀STG-01U可以測(cè)量從金屬到非金屬的各種物質(zhì)的厚度。

日本showadenshi非接觸式玻璃測(cè)厚儀紅外線穿過(guò)特定的物質(zhì)。它是一種利用該特性以非接觸方式測(cè)量特定物質(zhì)厚度的技術(shù)。

日本showadenshi非接觸式硅晶片測(cè)厚儀我們以非接觸方式測(cè)量硅晶片、藍(lán)寶石、玻璃等的厚度和形狀。我們提出并開(kāi)發(fā)滿(mǎn)足客戶(hù)需求的測(cè)量?jī)x器，例如光學(xué)干涉法和位移...

日本中央制作所電鍍厚度測(cè)量?jī)xTH-11它是一種破壞性測(cè)量?jī)x器，可用于電鍍的質(zhì)量控制，并具有多種可測(cè)量的電鍍類(lèi)型。

日本g-freude非接觸式中心壁厚檢測(cè)儀CT-Gauge DX自初的模型以來(lái)已經(jīng)過(guò)去了七年。在此期間，我們克服了許多問(wèn)題，對(duì)機(jī)械和軟件進(jìn)行了全面改進(jìn)，進(jìn)一步擴(kuò)...

日本densoku鍍層測(cè)厚儀GCT-311改進(jìn)的可操作性和增強(qiáng)的功能通過(guò)使用個(gè)人計(jì)算機(jī)，提高了可操作性并增強(qiáng)了功能。易于數(shù)據(jù)處理使用Windows規(guī)范可以輕松完...

日本富士fujiwork在線式薄膜測(cè)厚儀FT-A200FT-A200測(cè)量范圍/ 10μm至200μm * 2FT-A200R測(cè)量范圍/ 3μm至100μm * ...

日本富士fujiwork薄膜連續(xù)測(cè)厚儀FT-A2001線性度是顯示是否可以與測(cè)量頭的位移量成比例顯示的比率。

日本daiei針織物測(cè)厚儀FS-60DS可以安裝多種類(lèi)型的壓腳和負(fù)載重量，以滿(mǎn)足各種標(biāo)準(zhǔn)，其中測(cè)量的壓力和壓腳直徑因測(cè)量對(duì)象而異。

日本daiei紡織品測(cè)厚儀FS-60DSCR-10A型主要適用于一般機(jī)織物和地板覆蓋物，F(xiàn)S-60DS型適用于毛織物和針織物。

日本daiei大榮科學(xué)測(cè)厚儀FS-60DS一種測(cè)量織物、地板覆蓋物、薄膜、橡膠、聚氨酯泡沫等厚度的設(shè)備。

日本sasaki koki半導(dǎo)體用金屬非接觸式測(cè)厚儀OZUMA22精確控制上、下測(cè)量噴嘴的背壓，噴嘴定位使噴嘴與被測(cè)物體之間的間隙恒定，并與預(yù)先用基準(zhǔn)規(guī)校準(zhǔn)的值...

日本sasaki koki半導(dǎo)體晶體非接觸式測(cè)厚儀OZUMA22OZUMA 更新了用于半導(dǎo)體晶片（Si 硅晶片、GaAs、砷化鎵 Ga）、砷（As）、玻璃、金屬...

日本olympus磁性測(cè)厚儀Magna-Mike 8600瑪格納-麥克8600是一個(gè)簡(jiǎn)單的磁性測(cè)厚儀，可以重復(fù)地測(cè)量非磁性材料以高準(zhǔn)確度的壁厚。操作非常簡(jiǎn)單，小...

日本olympus超聲波測(cè)厚儀38DL PLUS創(chuàng)新的 38DL PLUS 預(yù)示著超聲波測(cè)厚儀的新時(shí)代。該手持式測(cè)厚儀適用于大多數(shù)超聲波壁厚測(cè)量的檢測(cè)應(yīng)用，可與...

日本olympus超聲波測(cè)厚儀 45MG45MG是一款高性能超聲波測(cè)厚儀，除了標(biāo)準(zhǔn)的腐蝕測(cè)厚功能外，還支持各種軟件選項(xiàng)的精密測(cè)厚。它是一種一體化解決方案，通過(guò)支...

日本olympus超聲波測(cè)厚儀27MG超聲波測(cè)厚儀27MG可以從一側(cè)準(zhǔn)確測(cè)量金屬管道、罐體和其他易受腐蝕和侵蝕的設(shè)備結(jié)構(gòu)的壁厚減薄。它僅重 340 克，符合人體...

日本YAMABUN山文電氣在線激光測(cè)厚裝置NME-RM, NSM-RMPP/PS/多層/薄膜/片材的理想選擇以非接觸方式測(cè)量厚度而非基重座椅制造過(guò)程中的全寬測(cè)量...

日本YAMABUN山文電氣臺(tái)式離線分光干涉式測(cè)厚儀TOF-S實(shí)現(xiàn)高測(cè)量重復(fù)性（± 0.01 μm 或更小，取決于對(duì)象和測(cè)量條件）不易受溫度變化的影響可...