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詳細(xì)摘要： 簡要描述：Nicomp380Z3000激光粒度儀是在原有的經(jīng)典型號380ZLSamp;amp;S基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light ...

詳細(xì)摘要： 簡要描述：納米激光粒度分析儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用雪崩二極管（APD）檢測器和大功率激光器，大功率激光器可以增加光強(qiáng)度，APD檢...

詳細(xì)摘要： 簡要描述：Nicomp Zeta電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, ...

詳細(xì)摘要： 簡要描述：Nicomp 380 N3000納米粒度儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析顆粒系的粒度及粒度分布，粒徑檢測范圍 0.5nm – 10μm。粒度分析復(fù)合采用 ...

詳細(xì)摘要： 簡要描述：Nicomp 380 N3000 進(jìn)口激光粒度分析儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用雪崩二極管（APD）檢測器和大功率激光器，大...

詳細(xì)摘要： 簡要描述：Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用雪崩二極管（APD）檢測器和大功率激光器，...

詳細(xì)摘要： 簡要描述：Nicomp380Z3000動態(tài)光散射測粒徑分布是在原有的經(jīng)典型號380ZLSamp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;amp;S基礎(chǔ)上...