一、金屬鍍層測厚儀 產(chǎn)品型號
1、產(chǎn)品型號 | ||||||||
型號: Ux-320 鍍層膜厚檢測儀
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二、 儀器簡介
2.1 儀器概述 |
Ux-320 鍍層膜厚分析X射線熒光光譜儀是華唯公司經(jīng)過3年研發(fā)，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析的普及機型，三重射線防護系統(tǒng)；人性化操作界面；華唯*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標準樣品標定，即可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。精心設計的開放式工作曲線功能，特別適用于工藝復雜材料的工廠鍍層、涂層的制程控制。 |
2.2 性能優(yōu)勢 |
1.*的VisualFp基本參數(shù)法分析軟件，可不用標準樣品標定，即對樣品鍍層膜厚進行測試 2.除可對金屬鍍層測試外，還可對合金鍍層、鋁合金鍍層、玻璃鍍層、塑料鍍層進行精確測量，開創(chuàng)了XRF對鍍層測厚的全面技術 3.軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀和大小自動設定光管功率，既能延長光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測器性能，大幅提高測量精度 4.業(yè)內(nèi)*提供開放式工作曲線標定平臺,可為每家用戶量身定做*的鍍層分析工作曲線 5.金屬鍍層測厚儀三重射線防護（軟件、硬件、迷宮設計），確保操作人員人身安全與意外操作帶來的輻射傷害 6.儀器外部對樣品微調(diào)設計，降低及防止樣品放置好后關閉樣品蓋產(chǎn)生振動而使測試位置發(fā)生變化導致的測試不準確性 7.可根據(jù)用戶要求自行定制測試報告輸出格式（Excel、PDF等），符合工廠多種統(tǒng)計及格式要求 8.業(yè)內(nèi)*家對達克羅涂覆工藝厚度分析的軟件方法，*取代金相顯微鏡技術在該行業(yè)的應用 9.軟件對多次測試結(jié)果進行統(tǒng)計分析功能 10.業(yè)內(nèi)*家既可以測試鍍層厚度，又可以同時分析基材及鍍層成分的XRF |
2.3 儀器技術指標 |
1、儀器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm 2、樣品腔尺寸：300*360*100mm； 3、zui低檢測厚度：1nm 4、檢測厚度上限，50 - 80um（視材料而定） 5、zui多測試層數(shù)：10層 6、測量時間 ：30-200s ( 系統(tǒng)自動調(diào)整 ) 7、*分辨率：見下面探測系統(tǒng)詳細參數(shù)說明 8、準直器：Φ0.5mm、Φ1mm、Φ2mm、Φ4mm自動切換 9、濾光片：5種濾光片自動切換 10、CCD觀察：260萬像素高清CCD 11、樣品微動范圍：XY15mm 12、輸入電源：AC220V～240V，50/60Hz 13、額定功率：350W 14、重量：約45Kg 15、工作環(huán)境溫度：溫度15—30℃ 16、工作環(huán)境相對濕度：≤85%（不結(jié)露） 17、穩(wěn)定性:多次測量重復性誤差小于0.1% |
三、 儀器硬件主體配置
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3.1 探測系統(tǒng) | ||
類型：AMPTEK Si-PIN X-123(整套原裝美國進口) Be窗：1mil(0.0254mm) *分辨率：145±5eV 系統(tǒng)峰背比：≥ 6200/1 能量響應范圍：1keV — 40keV *計數(shù)率：5000cps | ||
3.2 X光管 | ||
| 型號：科頤維(國產(chǎn)) 電 壓: 0 ~ 50 kV zui大電流: 1.0 mA zui大功率: 50 W 燈絲電壓: 2.0V 燈絲電流: 1.7 A 射線取出角：12° 靶 材：Mo Be窗厚度：400um | |
3.3高壓電源 | ||
| 型號：Spellman(美國*) 輸入電壓: DC +24V±10% 輸入電流：4.0A（zui大） 輸出電壓: 0 -50KV &1mA zui大功率：50W 電壓調(diào)整率：0.01% （從空載到滿載） 電流調(diào)整率：0.01% （從空載到滿載） 紋波系數(shù)：0.1% （P-P值） 8小時穩(wěn)定性：≤0.05% | |
環(huán)保在線