高加速壽命試驗/Hightly accelerated life test

　　高加速壽命試驗(HALT)是在被試件產(chǎn)品上步進(jìn)施加應(yīng)力(包含振動、高低溫、濕度、溫度循環(huán)、電應(yīng)力開關(guān)循環(huán)、限電壓及限頻率等)，使產(chǎn)品設(shè)計缺陷、潛在弱點暴露在樣機(jī)試制階段，改變了傳統(tǒng)的依靠用戶使用來發(fā)現(xiàn)問題的模式、大大縮短了產(chǎn)品成熟周期、提高產(chǎn)品可靠性。

方法標(biāo)準(zhǔn)：

　　●GB/T 29309《電工電子產(chǎn)品加速應(yīng)力試驗規(guī)程 高加速壽命試驗導(dǎo)則》

試驗優(yōu)點：

　　a)設(shè)計缺陷，大大提高設(shè)計可靠性，確保能獲得早期高可靠性，使設(shè)備具有較高的外場可靠性;

　　b)大大減少鑒定試驗時的故障，經(jīng)過HALT試驗的產(chǎn)品，性能已基本穩(wěn)定;

　　c)降低壽命周期費(fèi)用;

　　d)能確切了解工作限和損壞限，為制定HASS試驗方案，確定了應(yīng)力量級提供依據(jù)。

試驗?zāi)芰Ψ秶?/strong>

　　溫度范圍：-100℃至200℃

　　溫變速率：60℃/min

　　振動量級：80Grms(空載)

　　頻率范圍：20-6000Hz (10000Hz)

應(yīng)用領(lǐng)域：

　　信息技術(shù)產(chǎn)品、汽車電子產(chǎn)品、電動玩具產(chǎn)品、電工電子產(chǎn)品整機(jī)及其電子部件、印制電路板組件等。

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