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詳細摘要： 倒置金相顯微鏡采用優(yōu)質(zhì)的遠光學(xué)系統(tǒng)，同時配備明暗場通用的長工作距離平場平場消色差物鏡，多光路的系統(tǒng)設(shè)計，可同時支持雙目鏡筒觀察和數(shù)碼攝像裝置觀察。

詳細摘要： 正置金相顯微鏡是針對半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、冶金工業(yè)需求而開發(fā)的，作為高級金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其強較性能.

詳細摘要： 菲希爾測厚儀其軟硬件均為珠寶黃金行業(yè)而設(shè)計。專注于重要的功能，在控制成本的同時仍只采用廣受認可、高質(zhì)量的組件。

詳細摘要： FMP100系列便攜式測厚儀通過磁感應(yīng)法和電渦流法進行鐵和非鐵磁性金屬上的涂鍍層測量；

詳細摘要： 手持式涂鍍層測厚儀高效的測量；充足的內(nèi)存，可用于數(shù)千個應(yīng)用，以及多種統(tǒng)計與顯示功能；

詳細摘要： MP0R 系列便攜式測厚儀能夠簡便、快速且無損地測量涂層厚度。配有兩個顯示屏、一個特別堅固的外殼和耐磨損的探頭，它們是可以直接用于現(xiàn)場可靠測量的理想設(shè)備。

詳細摘要： 便攜式測厚儀同樣采用久經(jīng)考驗的WinFTM軟件?；诨緟?shù)法的WinFTM軟件不僅能進行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實現(xiàn)無校準（不需標準片）測量。

詳細摘要： CMS2臺式測厚儀通過電解退鍍方式測量鍍層厚度。還可使用庫侖法精確測定任何類型底材上的多鍍層厚度。CSM2 STEP 版本可對單種鍍層進行標準的STEP測試，以...

詳細摘要： MMS PC2臺式測厚儀堅固耐用且功能豐富的臺式儀器，可用作多功能測量系統(tǒng)，并可保存和處理測量數(shù)據(jù)

詳細摘要： XDL臺式測厚儀提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。

詳細摘要： 臺式測厚儀配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量較薄的鍍層

詳細摘要： 防腐材料壁厚測厚儀型號豐富，從入門級到高精度級。多種測量模式，包括A掃描和B掃描、回波-回波測量和聲速模式。

詳細摘要： 奧林巴斯探傷儀體積雖小，但卻有著許多通常只有更大的探傷儀才具有的功能。EPOCH LT探傷儀除了具有快速