儀器名稱

X射線衍射儀

儀器型號

日本理學 SmartLab 3KW

儀器簡介

高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度，*的一維陣列探測器可以提高強度150倍，不僅大幅提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。

技術參數(shù)

    測量精度：±0.0001°；                       測角儀半徑≥200 mm；

    很小步長：0.0001° ；                             角度范圍（2θ）：-110～168°；

    很大輸出：3 KW；                            穩(wěn)定性：±0.01%； 

    管電壓：20～60 kV(1kV/1step)；         管電流：10～60 mA。

儀器功能

        X射線衍射儀可以對樣品進行物相定性和部分樣品的定量分析，可以測定精確的晶胞參數(shù)、簡單晶體的晶體結構、樣品的結晶度、微晶的粒度。利用相應附件可以測定納米粒度、薄膜厚度；可以進行斑點等小區(qū)域樣品進行分析；

在線測試系統(tǒng)

物相分析檢測案例

樣品要求

    粉末：樣品須干燥處理，粒度小于300目，質量不少于0.1g；

    塊體: 需加工出一平整的表面，尺寸約為20mm×20mm×2mm。