儀器介紹
新一代Zetasizer Nano 系列可以為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項最重要參數(shù)的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。 
這些系統(tǒng)中內(nèi)置了新技術(shù)，提供無比的靈敏性和多功能性。 

粒度 - NIBS 技術(shù)可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進行測量。 

Zeta 電位 - M3-PALS 技術(shù)能夠?qū)λ稚⒑头撬稚Ⅲw系中的 zeta 電位進行精確的測量。 

分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學裝置提供測量分子量所需的靈敏度和穩(wěn)定性。 

Zetasizer Nano 系列中,可根據(jù)實際應用選擇Nano ZS, Nano ZS90, Nano S, Nano Z,Nano S90等不同型號

Zetasizer Nano ZS 是 Malvern Zetasizer Nano 系列中的，能夠測量所有三項參數(shù)，而且性能絲毫不減。 

Nano ZS、Z 及 ZS90 都可以使用*的一次性 zeta 電位樣品池，避免樣品之間的交叉污染。 

所有系統(tǒng)均可與 MPT-2 自動滴定儀連接使用，實現(xiàn)趨勢測量和樣品制備的自動化。

主要特點
新一代Zetasizer Nano系列納米粒度和Zeta電位及分子量分析儀 
持續(xù)革新與優(yōu)化 樹立納米分析新
融合多項技術(shù) 挑戰(zhàn)顆粒表征極限 
粒度范圍極寬:0.3-- 10 μm 
濃度范圍廣: 0.1ppm—40%(w/v) 
測量分子量 
高分辨率高靈敏度Zeta電位測量 
zeta電位樣品池具有所需樣品量低至150 μl 和檢測高濃度樣品至40%(依賴于樣品)的極限能力

技術(shù)參數(shù)：

粒徑測量
粒徑范圍: 0.3 nm - 10 μm * 
濃度范圍: 0.1ppm – 40% w/v * 
檢測角度: 175o 和 12.8o 
最小樣品量: 12 μl 

Zeta電位測量 
Zeta電位范圍: 無實際限制 
電泳遷移率: 0 – 無實際上限 
樣品電導率: 200mS/cm 
樣品濃度: 40% w/v 
最小樣品量: 150 μl 
粒徑范圍: 3.8nm - 100 μm * 

分子量測量
分子量范圍 342 - 2 ×107 Da * (動態(tài)光散射) 
           980 - 2 ×107 Da * (靜態(tài)光散射) 
最小樣品量 12 μl，* 取決于樣品 

多項技術(shù) 
? 馬爾文NIBS非侵入背側(cè)光散射技術(shù)使儀器具有靈敏性 
? 馬爾文的新一代PALS+M3技術(shù),將的硬件與軟件技術(shù)相結(jié)合,有效檢測散射光的相位變化 
? 馬爾文的毛細管樣品池電極組件,真正避免交叉污染

強大多功能系統(tǒng) 
? 的APD檢測器,靈敏度無出其右 
? 特制高性能He-Ne激光器,提供更高的穩(wěn)定性 
? 標準配置研究級高速數(shù)字相關器 
? 175度和12.8度相結(jié)合的雙角度測量模式,洞悉體系中的締合物含量